[发明专利]一种全自动PL检测装置

说明书

本发明公开了一种全自动PL检测装置，涉及PL检测技术领域。包括上料机构、硅片传输轨道、检测机构、不良片剔除机构、不良片传输机构、合格片下料机构等部分组成。采用工件篮作为承载硅片的载具，避免了人手对硅片造成的脏污和硅片之间摩擦导致的产品缺陷。硅片采用步进式传送，可实现快速准确的检测。PL测试图像采用图像分析软件自动判断缺陷类型，避免了人工分选的主观判断失误，可实现测试的标准化。测试不良片传送至专门的不良品传送轨道，可收集到与电池片同样的工件篮中，不会对不良片造成二次污染，便于人工进行二次分选。不良片盒和合格片传送轨道上均安装有缓存机构，可减少因故障停机的时间。

技术领域

本发明属于太阳能电池生产技术领域，特别是涉及一种全自动的PL检测装置。

背景技术

光致发光(Photoluminescence,简称PL)是指物质吸收光子(或电磁波)后重新辐射出光子(或电磁波)的过程。光致发光可以应用于：带隙检测，杂质等级和缺陷检测，复合机制以及材料品质鉴定。光致发光测试系统就是利用光致发光的应用原理实现对硅片、电池片的少子寿命值、串联电阻、隐裂、晶格缺陷、I-V曲线等各种技术指标的在线无接触测量。

目前市场上的PL检测装置多为手动式，存在检测速度低，自动化程度不高等缺点，对不良片的判断需要人工根据经验判断，易受不同测试人员的主观判断影响，无法提供标准、客观的判断，对于测试过程中发现的不良片，采用堆叠的方式放置在一起，二次复检时易造成电池片之间相互摩擦损伤电池片表面，易导致不良片直接报废。

发明内容

本发明的目的在于提供一种全自动PL检测装置，可实现全自动的上料、下料及检测过程，将测试不合格品单独剔除，放置在专门的载具，解决上述PL检测装置存在的问题。

本发明是通过以下技术方案实现的：

一种全自动PL检测装置，包括上料机构、硅片传输轨道、检测机构、不良片剔除机构、不良片传输机构、合格片下料机构等部分组成。

所述上料机构包括压篮气缸0，上料进篮轨道1，上料出篮轨道2，上料托盘3，上料升降模组4，上料伸缩模组5；

所述上料进篮轨道1和上料出篮轨道2设置在所述上料升降模组4的侧面，所述上料进篮轨道1设置在所述上料出篮轨道2的上方，所述上料托盘3设置在所述上料升降模组4上，所述上料托盘3的三个工作位置分别与上料进篮轨道1，上料出篮轨道2和上料伸缩模组5对应，所述上料伸缩模组5设置在所述上料升降模组4的另一个侧面；

所述伸缩模组5包括传感器501，直线导轨502，伸缩板503，电容传感器504，无杆气缸505，感应铁片506，硅片传送皮带507，传动轮508，传动带509，步进电机510；

所述无杆气缸505通过所述直线导轨502与所述伸缩板503，所述所述传感器501，所述硅片传送皮带507设置在所述伸缩板503上，所述传感器501、电容传感器504和感应铁片506分别用来监测伸缩板503的位置、硅片传送皮带507上是否有硅片以及硅片数量，所述步进电机510通过传动带带动硅片传送皮带507运行；

所述上料机构工作过程：上料时，将装载有多层硅片的工料篮放置在上料进篮轨道1上，驱动电机带动皮带将工料篮传输至上料升降模组4的上料托盘3上，压篮气缸0伸出，将工料篮固定，然后上料托盘3在伺服电机驱动的上料升降模组4带动下向上运动至第一片取片位置，另一侧的上料伸缩模组5将取料伸缩板9伸出到待取的硅片下面，上料托盘3下降一格使第一层硅片降落到硅片传输皮带507上面，硅片传输皮带507运转，将第一层硅片从工料篮中取出，取料伸缩板9与硅片传输皮带507配合，将硅片逐渐转移到硅片传送轨道6上，然后工料篮逐格下降，将工料篮内硅片全部取出。待工料篮内硅片全部取出后，取料伸缩板9缩回，上料托盘3下降至与工料篮出料轨道齐平处，压篮气缸0缩回，上料升降模组4的托盘皮带反向运转，将空工料篮传送至上料出篮轨道2，上料出篮轨道2在驱动电机的带动下运转，将工料篮传送至出料轨道末端。