[发明专利]半导体存储装置在审
申请号: | 202010876622.6 | 申请日: | 2020-08-27 |
公开(公告)号: | CN113380819A | 公开(公告)日: | 2021-09-10 |
发明(设计)人: | 井口直 | 申请(专利权)人: | 铠侠股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/1157 | 分类号: | H01L27/1157;H01L27/11582 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 刘英华 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 存储 装置 | ||
1.一种半导体存储装置,具备:
基板;
多个导电层,在与所述基板的表面交叉的第1方向上排列;
多个存储单元,与所述多个导电层连接;
接触电极,沿所述第1方向延伸,并与所述多个导电层中的一个导电层连接;以及,
绝缘构造,沿所述第1方向延伸,并与所述接触电极的所述第1方向上的一侧的端部以及所述多个导电层连接。
2.根据权利要求1所述的半导体存储装置,其中,具备:
多个层间绝缘膜,设置于沿所述第1方向排列的多个导电层之间,
所述多个导电层具备在所述第1方向上相邻的第2导电层及第3导电层,
所述多个层间绝缘膜具备第1层间绝缘膜,该第1层间绝缘膜设置于所述第2导电层与所述第3导电层之间,
所述绝缘构造具备第1绝缘层,该第1绝缘层沿所述第1方向延伸并与所述多个导电层及所述多个层间绝缘膜连接,
所述第1绝缘层具备:
第1部分,在所述第1方向上设置于与所述第2导电层对应的位置,与所述第2导电层连接;
第2部分,在所述第1方向上设置于与所述第3导电层对应的位置,与所述第3导电层连接;以及
第3部分,在所述第1方向上设置于与所述第1层间绝缘膜对应的位置,与所述第1层间绝缘膜连接。
3.根据权利要求2所述的半导体存储装置,其中,
所述第3部分的外径大于所述第1部分及所述第2部分的外径。
4.根据权利要求2或3所述的半导体装置,其特征在于,
所述绝缘构造具备第2绝缘层,该第2绝缘层沿所述第1方向延伸,并与所述接触电极的所述第1方向的端部连接,
所述第1绝缘层设置于所述第2绝缘层与所述多个导电层之间。
5.根据权利要求4所述的半导体存储装置,其中,
所述绝缘构造具备第3绝缘层,该第3绝缘层与所述接触电极、所述第1绝缘层及所述第2绝缘层连接。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
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H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的