[发明专利]半导体存储装置在审

专利信息
申请号: 202010876622.6 申请日: 2020-08-27
公开(公告)号: CN113380819A 公开(公告)日: 2021-09-10
发明(设计)人: 井口直 申请(专利权)人: 铠侠股份有限公司
主分类号: H01L27/1157 分类号: H01L27/1157;H01L27/11582
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 刘英华
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 半导体 存储 装置
【权利要求书】:

1.一种半导体存储装置,具备:

基板;

多个导电层,在与所述基板的表面交叉的第1方向上排列;

多个存储单元,与所述多个导电层连接;

接触电极,沿所述第1方向延伸,并与所述多个导电层中的一个导电层连接;以及,

绝缘构造,沿所述第1方向延伸,并与所述接触电极的所述第1方向上的一侧的端部以及所述多个导电层连接。

2.根据权利要求1所述的半导体存储装置,其中,具备:

多个层间绝缘膜,设置于沿所述第1方向排列的多个导电层之间,

所述多个导电层具备在所述第1方向上相邻的第2导电层及第3导电层,

所述多个层间绝缘膜具备第1层间绝缘膜,该第1层间绝缘膜设置于所述第2导电层与所述第3导电层之间,

所述绝缘构造具备第1绝缘层,该第1绝缘层沿所述第1方向延伸并与所述多个导电层及所述多个层间绝缘膜连接,

所述第1绝缘层具备:

第1部分,在所述第1方向上设置于与所述第2导电层对应的位置,与所述第2导电层连接;

第2部分,在所述第1方向上设置于与所述第3导电层对应的位置,与所述第3导电层连接;以及

第3部分,在所述第1方向上设置于与所述第1层间绝缘膜对应的位置,与所述第1层间绝缘膜连接。

3.根据权利要求2所述的半导体存储装置,其中,

所述第3部分的外径大于所述第1部分及所述第2部分的外径。

4.根据权利要求2或3所述的半导体装置,其特征在于,

所述绝缘构造具备第2绝缘层,该第2绝缘层沿所述第1方向延伸,并与所述接触电极的所述第1方向的端部连接,

所述第1绝缘层设置于所述第2绝缘层与所述多个导电层之间。

5.根据权利要求4所述的半导体存储装置,其中,

所述绝缘构造具备第3绝缘层,该第3绝缘层与所述接触电极、所述第1绝缘层及所述第2绝缘层连接。

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