[发明专利]激光同步剥离晶圆的方法在审
申请号: | 202010856050.5 | 申请日: | 2020-08-24 |
公开(公告)号: | CN111992903A | 公开(公告)日: | 2020-11-27 |
发明(设计)人: | 王宏建;赵卫;何自坚;陈湘文;朱建海 | 申请(专利权)人: | 松山湖材料实验室 |
主分类号: | B23K26/38 | 分类号: | B23K26/38;B23K26/402;B23K26/067;B28D5/00 |
代理公司: | 深圳市千纳专利代理有限公司 44218 | 代理人: | 陈培琼 |
地址: | 523000 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 激光 同步 剥离 方法 | ||
本发明公开了一种激光同步剥离晶圆的方法,其包括如下步骤:(1)将待加工的晶锭定位固定,移动激光束,使激光束的焦平面位于晶锭内部;(2)开启激光器,激光束经分光镜分束后,一部分从晶锭的正面入射形成前激光束,另一部分经过反射镜反射从晶锭背面入射形成后激光束;(3)控制前激光束和后激光束沿其各自的焦平面于晶锭上加工出改质层;(4)改质层加工完成后,对晶锭的上、下表面施加相应的反向作用力,剥离出两片厚度相同或不同的晶圆。整体加工过程操作简单,易于实现,大大节约了晶锭改质层的加工时间,加工效率高,且可针对不同的晶圆剥离厚度采用不同的激光束能量,同时实现不同厚度的晶圆剥离,灵活性高,适用范围广。
技术领域
本发明属于半导体技术领域,具体涉及一种激光同步剥离晶圆的方法。
背景技术
晶圆是半导体制造领域的材料基础,而晶锭剥离技术是获得高质量晶圆片的关键。常规的金刚石线切割方式因存在加工效率低、加工工具及被加工材料损耗大等问题,难以满足大尺寸晶圆生产的需求。晶圆属于硬脆材料,激光隐形加工技术在晶锭剥离方面具有极大的应用潜力。
公开号“CN106216856B”,名称为“双焦点激光加工系统及其加工方法”,其公开一种双焦点激光加工系统及其加工方法,其通过偏振片将激光束分成两束,分别在LED晶圆片横向及纵向切割道内部形成炸点,实现芯粒的切断。其主要用于沿着相互交错的切割道分离LED晶圆片,切割的断面是不规则的台阶面,台阶面的产生增大了LED芯粒的发光面积,提高了LED芯粒的发光亮度。
公开号“CN102689092A”,名称为“使用双激光光束的太阳能晶圆精密加工方法及装置”,其公开一种使用双激光光束的太阳能晶圆精密加工方法及装置,其采用双激光光束对太阳能晶圆进行先后加工,激光光束的能量分别低于、高于晶圆,基于两束激光叠加的非线性效应,它们的总能量低于达到同等效果的单束激光的能量,提高了激光能量的使用效率,降低加工成本。
上述两种方法虽然披露有将激光束分成两束,但是各自功能作用不同,并且不是专门应用于晶锭的剥离工序,因此,寻求一种高效对晶锭进行同步剥离晶圆的方法,对提高晶圆加工效率和良品率有非常重要的意义。
发明内容
针对上述的不足,本发明目的在于,提供一种易于实现,通过分光的方式从晶锭两侧同步加工,可同时获得两片相同或不同厚度的晶圆,大大提高了加工效率的激光同步剥离晶圆的方法。
一种激光同步剥离晶圆的方法,其包括如下步骤:
(1)将待加工的晶锭定位固定,移动激光束,使激光束的焦平面位于晶锭内部;
(2)开启激光器,激光束经分光镜分束后,一部分从晶锭的正面入射形成前激光束,另一部分经过反射镜反射从晶锭背面入射形成后激光束;
(3)控制前激光束和后激光束沿其各自的焦平面于晶锭上加工出改质层;
(4)改质层加工完成后,对晶锭的上、下表面施加相应的反向作用力,从晶锭的上、下表面上分别剥离出晶圆。
作为本发明的一种优选方案,所述步骤(1)中通过夹具将待加工的晶锭定位固定。
作为本发明的一种优选方案,所述步骤(1)中沿晶锭的轴向方向移动激光束,使激光束的焦平面位于晶锭内部。
作为本发明的一种优选方案,所述晶锭为硅、碳化硅、蓝宝石或氮化镓等。
作为本发明的一种优选方案,所述步骤(4)中采用真空吸盘对晶锭的上、下表面进行吸附,同时向远离晶锭方向拉动,从晶锭的上、下表面上分别剥离出晶圆。
作为本发明的一种优选方案,所述激光束的脉宽为200fs~10ns,波长为355nm~1064nm,能量为10μJ~300μJ,扫描速度为50mm/s~200mm/s。
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