[发明专利]数据存储方法、存储系统、存储设备及存储介质

权利要求书

1.一种数据存储方法，其特征在于，所述方法应用于存储系统中，所述存储系统包括第一介质层和第二介质层，所述第一介质层的性能不同于所述第二介质层的性能，所述方法包括：

在所述第一介质层中，按照第一纠删码配比存储数据；

当设定条件满足时，将所述第一介质层中存储的所述数据按照第二纠删码配比迁移至所述第二介质层；

其中，所述第一纠删码配比对应N个数据单元和M个校验单元，N和M为大于或等于1的整数，所述第二纠删码配比对应X个数据单元和Y个校验单元，X和Y为大于或等于1的整数，N和M的比值不等于X和Y的比值。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一介质层的性能高于所述第二介质层的性能，N和M的比值小于X和Y的比值。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述第一介质层存储的所述数据包括多个子数据，每个子数据对应一个第一校验矩阵，每个第一校验矩阵包括所述N个数据单元和所述M个校验单元；

所述将所述第一介质层中存储的所述数据按照第二纠删码配比迁移至所述第二介质层包括：

根据每个第一校验矩阵所包含的N个数据单元获得所述X个数据单元，所述X是所述N的整数倍；

计算获得Y个校验单元以生成第二校验矩阵，所述第二校验矩阵包括所述X个数据单元和所述Y个校验单元；

将所述第二校验矩阵写入所述第二介质层中。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述计算获得Y个校验单元包括根据所述X个数据单元计算获得所述Y个校验单元。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述计算获得Y个校验单元包括根据每个第一校验矩阵所包含的M个校验单元计算所述Y个校验单元，所述Y等于所述M。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，每个第一校验矩阵中的所述M个校验单元均存储在所述存储系统的第一存储节点中，所述方法还包括：从所述第一存储节点中获取每个第一校验矩阵中的M个校验单元。

7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，当M大于或等于2时，所述M个校验单元包括校验单元p和校验单元q，其中，每个第一校验矩阵中的校验单元p均存储在所述存储系统的第一存储节点中，每个第一校验矩阵中的校验单元q均存储在所述存储系统的第二存储节点中，所述方法还包括：

从所述第一存储节点获取每个第一校验矩阵中的校验单元p；

从所述第二存储节点获取每个第一校验矩阵中的校验单元q；

所述根据每个第一校验矩阵所包含的M个校验单元计算所述Y个校验单元具体包括：根据每个第一校验矩阵中的校验单元p和每个第一校验矩阵中的校验单元q计算获得所述Y个校验单元，所述Y个校验单元包括所述第二校验矩阵中的校验单元p’和校验单元q’。

8.根据权利要求1-7任一所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：根据所述存储系统的拓扑结构和所述存储系统的容错能力确定所述第一纠删码配比或所述第二纠删码配比，其中，所述拓扑结构用于指示所述存储系统所包含的存储节点的数量，所述容错能力用于指示所述存储系统容忍出错的存储节点的数量。

9.根据权利要求1-8任一所述的方法，其特征在于，所述设定条件包括所述第一介质层的可用容量达到容量阈值。

10.根据权利要求1-8任一所述的方法，其特征在于，所述设定条件包括所述第一介质层存储的数据的访问频率低于热度阈值。