[发明专利]一种基于互耦效应的二次雷达相控阵自动校准方法、装置

说明书

本发明公开了一种基于互耦效应的二次雷达相控阵自动校准方法、装置，该方法包括发射校准和接收校准，发射校准过程为由询问通道分别发射测试信号，由控制通道对其进行接收。得到每个接收到的信号与发射源产生的标准信号之间的幅相差，然后以幅度最小的询问通道为发射基准通道，调整其它询问通道的幅度和相位。接收校准过程为由控制通道发射测试信号，由比较通道和其它询问通道依次进行接收，计算每一询问通道采集到的接收信号与比较通道采集到的接收信号之间的幅相差，选择幅度最小的接收信号对应的询问通道作为接收基准通道，调整其它询问通道的幅度和相位。本发明能够自动完成各射频通道的发射校准和接收校准。

技术领域

本发明涉及天线校准技术领域，特别是涉及一种基于互耦效应的二次雷达相控阵自动校准方法、装置。

背景技术

二次雷达相控阵系统在使用过程中由于器件老化、部件更换等原因造成各射频通道之间的幅相特性发生变化，从而影响二次雷达相控阵系统的探测精度。因此需要定期对相控阵系统的射频通道进行幅相校准，以确保其探测性能。

目前常用的校准方法需要额外的外场测量装置，且操作复杂，需要维护人员具备一定的专业知识，不利于设备交付后的产品维护。

发明内容

本发明的目的在于提供一种基于互耦效应的二次雷达相控阵天线自动校准方法，能够自动完成各射频通道的发射校准和接收校准。

为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是：提供一种基于互耦效应的二次雷达相控阵自动校准方法，所述二次雷达相控阵天线具有1路控制通道和多路询问通道，所述二次雷达相控阵天线自动校准方法包括以下步骤：

S1：接收发射校准指令或接收校准指令；

S2：根据所述发射校准指令对多路询问通道进行发射校准或者根据所述接收校准指令对多路询问通道进行接收校准；

其中，所述对多路询问通道进行发射校准的步骤包括：

S11：将所述多路询问通道按照第一顺序进行排序；

S12：按照排序顺序依次开启询问通道，并发射第一测试信号，同时控制控制通道进入接收模式，其中，当前询问通道开启时，其它询问通道均关闭；

S13：计算所述控制通道采集到的每一个接收信号与发射源产生的标准信号之间的幅相差；

S14：选择幅度最小的接收信号对应的询问通道作为发射基准通道，根据其它询问通道对应的幅相差调整每一询问通道的幅度和相位，使每一询问通道的幅度和相位与发射基准通道保持一致；

所述对多路询问通道进行接收校准的步骤包括：

S21：将所述多路询问通道按照第二顺序进行排序，将排序第一的询问通道作为比较通道；

S22：开启控制通道，并发射第二测试信号，控制比较通道开启并进入接收模式，同时按照排序顺序从排序第二的询问通道开始依次开启询问通道并进入接收模式，其中，当前询问通道开启时，除比较通道外，其它询问通道均关闭；

S23：计算每一所述询问通道采集到的接收信号与比较通道采集到的接收信号之间的幅相差；

S24：选择幅度最小的接收信号对应的询问通道作为接收基准通道，根据其它询问通道对应的幅相差调整每一询问通道的幅度和相位，使每一询问通道的幅度和相位与接收基准通道保持一致。

优选的，所述第一顺序与第二顺序相同。

优选的，所述第一测试信号与第二测试信号相同。

为解决上述技术问题，本发明采用的另一个技术方案是：提供一种基于互耦效应的二次雷达相控阵自动校准装置，所述二次雷达相控阵天线具有1路控制通道和多路询问通道，所述二次雷达相控阵天线自动校准装置包括指令接收模块、发射校准模块和接收校准模块：