[发明专利]一种基于互耦效应的二次雷达相控阵自动校准方法、装置有效
| 申请号: | 202010846600.5 | 申请日: | 2020-08-21 |
| 公开(公告)号: | CN111983576B | 公开(公告)日: | 2022-04-19 |
| 发明(设计)人: | 王世民;罗海;林洪彬;张宏达 | 申请(专利权)人: | 四川九洲空管科技有限责任公司 |
| 主分类号: | G01S7/40 | 分类号: | G01S7/40 |
| 代理公司: | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人: | 胡川 |
| 地址: | 621000 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 基于 效应 二次 雷达 相控阵 自动 校准 方法 装置 | ||
1.一种基于互耦效应的二次雷达相控阵自动校准方法,所述二次雷达相控阵天线具有1路控制通道和多路询问通道,其特征在于,所述二次雷达相控阵天线自动校准方法包括以下步骤:
S1:接收发射校准指令或接收校准指令;
S2:根据所述发射校准指令对多路询问通道进行发射校准或者根据所述接收校准指令对多路询问通道进行接收校准;
其中,所述对多路询问通道进行发射校准的步骤包括:
S11:将所述多路询问通道按照第一顺序进行排序;
S12:按照排序顺序依次开启询问通道,并发射第一测试信号,同时控制控制通道进入接收模式,其中,当前询问通道开启时,其它询问通道均关闭;
S13:计算所述控制通道采集到的每一个接收信号与发射源产生的标准信号之间的幅相差;
S14:选择幅度最小的接收信号对应的询问通道作为发射基准通道,根据其它询问通道对应的幅相差调整每一询问通道的幅度和相位,使每一询问通道的幅度和相位与发射基准通道保持一致;
所述对多路询问通道进行接收校准的步骤包括:
S21:将所述多路询问通道按照第二顺序进行排序,将排序第一的询问通道作为比较通道;
S22:开启控制通道,并发射第二测试信号,控制比较通道开启并进入接收模式,同时按照排序顺序从排序第二的询问通道开始依次开启询问通道并进入接收模式,其中,当前询问通道开启时,除比较通道外,其它询问通道均关闭;
S23:计算每一所述询问通道采集到的接收信号与比较通道采集到的接收信号之间的幅相差;
S24:选择幅度最小的接收信号对应的询问通道作为接收基准通道,根据其它询问通道对应的幅相差调整每一询问通道的幅度和相位,使每一询问通道的幅度和相位与接收基准通道保持一致。
2.根据权利要求1所述的二次雷达相控阵自动校准方法,其特征在于,所述第一顺序与第二顺序相同。
3.根据权利要求1所述的二次雷达相控阵自动校准方法,其特征在于,所述第一测试信号与第二测试信号相同。
4.一种基于互耦效应的二次雷达相控阵自动校准装置,所述二次雷达相控阵天线具有1路控制通道和多路询问通道,其特征在于,所述二次雷达相控阵天线自动校准装置包括指令接收模块、发射校准模块和接收校准模块:
所述指令接收模块用于接收发射校准指令或接收校准指令;
所述发射校准模块用于根据所述发射校准指令对多路询问通道进行发射校准;
所述接收校准模块用于根据所述接收校准指令对多路询问通道进行接收校准;
其中,所述发射校准模块包括第一排序单元、第一控制单元、第一计算单元和发射校准单元,所述接收校准模块包括第二排序单元、第二控制单元、第二计算单元和接收校准单元;
所述第一排序单元用于将所述多路询问通道按照第一顺序进行排序;
所述第一控制单元用于按照排序顺序依次开启询问通道,并发射第一测试信号,同时控制控制通道进入接收模式,其中,当前询问通道开启时,其它询问通道均关闭;
所述第一计算单元用于计算所述控制通道采集到的每一个接收信号与发射源产生的标准信号之间的幅相差;
所述发射校准单元用于选择幅度最小的接收信号对应的询问通道作为发射基准通道,根据其它询问通道对应的幅相差调整每一询问通道的幅度和相位,使每一询问通道的幅度和相位与发射基准通道保持一致;
所述第二排序单元用于将所述多路询问通道按照第二顺序进行排序,将排序第一的询问通道作为比较通道;
所述第二控制单元用于开启控制通道,并发射第二测试信号,控制比较通道开启并进入接收模式,同时按照排序顺序从排序第二的询问通道开始依次开启询问通道并进入接收模式,其中,当前询问通道开启时,除比较通道外,其它询问通道均关闭;
所述第二计算单元用于计算每一所述询问通道采集到的接收信号与比较通道采集到的接收信号之间的幅相差;
所述接收校准单元用于选择幅度最小的接收信号对应的询问通道作为接收基准通道,根据其它询问通道对应的幅相差调整每一询问通道的幅度和相位,使每一询问通道的幅度和相位与接收基准通道保持一致。
5.根据权利要求4所述的二次雷达相控阵自动校准装置,其特征在于,所述第一顺序与第二顺序相同。
6.根据权利要求4所述的二次雷达相控阵自动校准装置,其特征在于,所述第一测试信号与第二测试信号相同。
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