[发明专利]一种基于双应力加速贮存试验的传感器寿命获取方法

说明书

一种基于双应力加速贮存试验的传感器寿命获取方法，属于传感器领域，本发明为解决只采用温度单应力进行加速贮存试验来获取传感器寿命，其结果不准确的问题。本发明方法包括以下步骤：步骤一、将传感器进行温湿度双应力加速贮存试验，具体过程为：对传感器施加温湿度双应力使之从自然贮存条件升至设定加速贮存条件，并保持一个循环周期t，然后撤销温湿度双应力，使传感器从设定加速贮存条件降至自然贮存条件，然后对传感器进行通电测试，若性能完好，重复执行本步骤，若无法通过性能测试，则结束试验并执行步骤二；步骤二、按t₀＝M/AF获取传感器寿命。

技术领域

本发明涉及一种获取传感器寿命技术，属于传感器领域。

背景技术

传感器技术作为现代信息技术的三大支柱之一，被广泛地应用特殊装备中，对于特殊装备而言，具有“长期贮存、一次使用”的普遍特点，即传感器在其全寿命周期内的绝大多数时间内，都是处于自然贮存或不工作状态。自然贮存环境中，经过长时间的库房存放，能够获得真实有效的试验数据，准确进行传感器的可靠性评估。但是，利用自然贮存进行可靠性评价的方法已经越来越困难，往往需要耗费很长的时间和大量的人力物力。加速贮存寿命试验是在保持产品的失效机理不变的前提下，用高于产品正常应力的试验应力加速产品失效，发现寿命薄弱环节并统计相关故障数据，选用相关数学模型推算出产品在正常应力水平下的寿命的一种试验方法。

目前，对传感器开展加速贮存试验时，一般采用单应力加速贮存试验方法，最常用的是温度应力加速贮存试验方法。但传感器在自然贮存环境中，敏感应力不仅仅是一个应力，还有可能有其它应力影响。如传感器非密封设计，长期贮存中内部会与水汽接触，因此，只采用温度单应力进行加速贮存试验来获取传感器寿命，其结果不准确。

发明内容

本发明目的是为了解决只采用温度单应力进行加速贮存试验来获取传感器寿命，其结果不准确的问题，提供了一种基于双应力加速贮存试验的传感器寿命获取方法。

本发明所述一种基于双应力加速贮存试验的传感器寿命获取方法，该方法包括以下步骤：

步骤一、将传感器进行温湿度双应力加速贮存试验，具体过程为：

对传感器施加温湿度双应力使之从自然贮存条件升至设定加速贮存条件，并保持一个循环周期t，然后撤销温湿度双应力，使传感器从设定加速贮存条件降至自然贮存条件，然后对传感器进行通电测试，若性能完好，重复执行本步骤，若无法通过性能测试，则结束试验并执行步骤二；

步骤二、按下述公式获取传感器寿命：

t₀＝M/AF

其中：t₀为传感器寿命；

AF为加速因子；

M为产品的最小MTBF值。

优选地，加速因子AF按下式

求取，

其中：T_u、RH_u为自然贮存条件下的温度、相对湿度；

T_e、RH_e为设定加速贮存条件下的温度、相对湿度；

E_a为传感器激活能，取值范围为0.4～0.6eV；

k为玻尔兹曼常数。

优选地，产品的最小MTBF值M按公式

获取，

其中，P_S为出厂通过试验的期望概率；