[发明专利]一种基于双应力加速贮存试验的传感器寿命获取方法

权利要求书

1.一种基于双应力加速贮存试验的传感器寿命获取方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：

步骤一、将传感器进行温湿度双应力加速贮存试验，具体过程为：

对传感器施加温湿度双应力使之从自然贮存条件升至设定加速贮存条件，并保持一个循环周期t，然后撤销温湿度双应力，使传感器从设定加速贮存条件降至自然贮存条件，然后对传感器进行通电测试，若性能完好，重复执行本步骤，若无法通过性能测试，则结束试验并执行步骤二；

步骤二、按下述公式获取传感器寿命：

t₀＝M/AF

其中：t₀为传感器寿命；

AF为加速因子；

M为产品的最小MTBF值。

2.根据权利要求1所述一种基于双应力加速贮存试验的传感器寿命获取方法，其特征在于，加速因子AF按下式

求取，

其中：T_u、RH_u为自然贮存条件下的温度、相对湿度；

T_e、RH_e为设定加速贮存条件下的温度、相对湿度；

E_a为传感器激活能，取值范围为0.4～0.6eV；

k为玻尔兹曼常数。

3.根据权利要求1所述一种基于双应力加速贮存试验的传感器寿命获取方法，其特征在于，产品的最小MTBF值M按公式

获取，

其中，P_S为出厂通过试验的期望概率；

r为无故障时间间隔，且r＝N·t，N为结束试验时经历的循环周期数量。

4.根据权利要求2所述一种基于双应力加速贮存试验的传感器寿命获取方法，其特征在于，一个循环周期起始点：温度升至T_e和相对湿度升至RH_e都满足的起始时刻；

一个循环周期终止点：撤销温湿度双应力的时刻。