[发明专利]一种TFT基板及其制造方法、显示面板在审

专利信息
申请号: 202010795044.3 申请日: 2020-08-10
公开(公告)号: CN112002763A 公开(公告)日: 2020-11-27
发明(设计)人: 赵舒宁;徐源竣 申请(专利权)人: 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司
主分类号: H01L29/786 分类号: H01L29/786;H01L27/12;H01L21/77
代理公司: 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 代理人: 王芳芳
地址: 518132 广东省深*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 tft 及其 制造 方法 显示 面板
【权利要求书】:

1.一种TFT基板,其特征在于,包括:

衬底基板;

有源层,设置于所述衬底基板上方;所述有源层包括沟道区、源极区和漏极区;所述沟道区的材料为氧化物半导体,所述源极区和所述漏极区的材料为导体化氧化物半导体;

栅极绝缘层和栅极,依次设置于所述沟道区上;

氧化钛层,覆盖所述源极区和所述漏极区;

源极和漏极,设置于所述氧化钛层上方,所述氧化钛层上设置有第一过孔,所述源极和所述漏极通过所述第一过孔分别和所述源极区与所述漏极区接触。

2.如权利要求1所述的TFT基板,其特征在于,所述氧化钛层还覆盖所述栅极绝缘层和所述栅极。

3.如权利要求1所述的TFT基板,其特征在于,所述氧化钛层覆盖所述衬底基板的整面。

4.如权利要求1所述的TFT基板,其特征在于,所述TFT基板还包括:

层间介质层,设置于所述氧化钛层和所述源极与所述漏极之间,所述第一过孔贯穿所述层间介质层和所述氧化钛层。

5.一种TFT基板的制造方法,其特征在于,所述制造方法包括以下步骤:

提供衬底基板;

在所述衬底基板上方形成氧化物半导体层,图案化所述氧化物半导体层,在所述图案化的氧化物半导体层上定义沟道区,在所述沟道区上依次形成栅极绝缘层和栅极;

在衬底基板上形成钛层,所述钛层覆盖所述氧化物半导体层上所述沟道区的两侧区域;

对所述氧化物半导体层上所述沟道区的两侧区域进行导体化处理,所述沟道区的两侧区域被导体化后形成源极区和漏极区,所述氧化物半导体层形成有源层;所述钛层被氧化形成氧化钛层;

在所述源极区和所述漏极区上方的所述氧化钛层上开设第一过孔,在所述氧化钛层上方形成源极和漏极,所述源极和所述漏极分别通过所述第一过孔与所述源极区和所述漏极区接触。

6.如权利要求5所述的制造方法,其特征在于,在所述衬底基板上形成钛层,所述钛层覆盖所述氧化物半导体层上所述沟道区的两侧区域的步骤还包括以下步骤:对所述钛层进行图案化处理,去除除所述氧化物半导体层上所述沟道区的两侧区域、所述栅极绝缘层和所述栅极上方之外的钛层。

7.如权利要求5所述的制造方法,其特征在于,所述钛层覆盖所述衬底基板的整面。

8.如权利要求5所述的制造方法,其特征在于,所述钛层的厚度为

9.如权利要求5所述的制造方法,其特征在于,在所述氧化钛层上方形成源极和漏极之前还包括以下步骤:

在所述氧化钛层上形成层间介质层;

在所述源极区和所述漏极区上方的所述氧化钛层和层间介质层上设置第一过孔,所述源极和所述漏极通过所述第一过孔分别和所述源极区与所述漏极区接触。

10.一种显示面板,其特征在于,所述显示面板包括如权利要求1至4任一项所述的TFT基板。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市华星光电半导体显示技术有限公司,未经深圳市华星光电半导体显示技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010795044.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top