[发明专利]一种SF6火花放电分解杂质分析方法及装置

权利要求书

1.一种SF6火花放电分解杂质分析方法，其特征在于，包括如下步骤：

通过预先确定的拟合模型对SF6分解组分产量与杂质含量之间的关联模型进行拟合，获取拟合参数，其中，所述关联模型根据预先确定的SF6火花放电分解产物和反应物之间的关联关系建立；

根据所述拟合参数对所述关联模型进行校正，以获得校正模型；

基于所述校正模型确定SF6火花放电分解的杂质含量。

2.如权利要求1所述的SF6火花放电分解杂质分析方法，其特征在于，预先确定SF6火花放电分解产物和反应物之间的关联关系，包括：

基于化学反应动力学理论确定SF6火花放电的二级反应速率；

根据所述二级反应速率确定SF6火花放电特征产物的体积分数；

根据所述体积分数确定SF6火花放电分解产物和反应物之间的关联关系。

3.如权利要求2所述的SF6火花放电分解杂质分析方法，其特征在于，所述根据所述体积分数确定SF6火花放电分解产物和反应物之间的关联关系，包括：

根据所述体积分数以及与所述杂质含量相关的分解组分确定SF6火花放电分解产物和反应物之间的关联关系。

4.如权利要求1所述的SF6火花放电分解杂质分析方法，其特征在于，预先确定拟合模型，包括：

根据所述关联模型确定的拟合函数构建拟合模型。

5.如权利要求4所述的SF6火花放电分解杂质分析方法，其特征在于，通过预先确定的拟合模型对SF6分解组分产量与杂质含量之间的关联模型进行拟合，以获取拟合参数，包括：

根据SF6火花放电分解的历史相关数据通过所述拟合函数进行拟合；

基于拟合结果确定拟合参数。

6.如权利要求1所述的SF6火花放电分解杂质分析方法，其特征在于，根据所述拟合参数对所述关联模型进行校正，以获得校正模型之后，还包括：

确定SF6火花放电分解的分产量比值的实测值和所述校正模型的计算值之间的偏相关系数；

根据所述偏相关系数对所述校正模型进行验证。

7.一种SF6火花放电分解杂质分析装置，其特征在于，包括：

参数确定单元，用于通过预先确定的拟合模型对SF6分解组分产量与杂质含量之间的关联模型进行拟合，以获取拟合参数，其中，所述关联模型根据预先确定的SF6火花放电分解产物和反应物之间的关联关系建立；

校正单元，用于根据所述拟合参数对所述关联模型进行校正，以获得校正模型；

数据处理单元，用于基于所述校正模型确定SF6火花放电分解的杂质含量。

8.如权利要求7所述的SF6火花放电分解杂质分析装置，其特征在于，所述参数确定单元，包括：

反应速率计算模块，用于基于化学反应动力学理论确定SF6火花放电的二级反应速率；

体积分数计算模块，用于根据所述二级反应速率确定SF6火花放电特征产物的体积分数；

关联模块，用于根据所述体积分数确定SF6火花放电分解产物和反应物之间的关联关系。

9.如权利要求8所述的SF6火花放电分解杂质分析装置，其特征在于，所述关联模块，具体用于根据所述体积分数以及与所述杂质含量相关的分解组分确定SF6火花放电分解产物和反应物之间的关联关系。

10.如权利要求7所述的SF6火花放电分解杂质分析装置，其特征在于，所述参数确定单元，还包括：

函数选择模块，用于根据所述关联模型确定的拟合函数构建拟合模型。

11.如权利要求10所述的SF6火花放电分解杂质分析装置，其特征在于，所述校正单元，包括：

函数拟合模块，用于根据SF6火花放电分解的历史相关数据通过所述拟合函数进行拟合；

参数计算模块，用于基于拟合结果确定拟合参数。

12.如权利要求7所述的SF6火花放电分解杂质分析装置，其特征在于，还包括：

偏相关系数计算单元，用于确定SF6火花放电分解的分产量比值的实测值和所述校正模型的计算值之间的偏相关系数；

验证单元，用于根据所述偏相关系数对所述校正模型进行验证。