[发明专利]一种SF6火花放电分解杂质分析方法及装置

说明书

本发明公开了一种SF6火花放电分解杂质分析方法及装置，其中方法包括：通过预先确定的拟合模型对SF6分解组分产量与杂质含量之间的关联模型进行拟合，获取拟合参数，其中，所述关联模型基于预先确定的SF6火花放电分解产物和反应物之间的关联关系确定；根据所述拟合参数对所述关联模型进行校正，以获得校正模型；基于所述校正模型确定SF6火花放电分解的杂质含量，本发明方法建立了SF6火花放电分解杂质的数学模型，实现了对SF6火花放电的定量分析。

技术领域

本发明涉及气体绝缘分析技术领域，特别是一种SF6火花放电分解杂质分析方法及装置。

背景技术

SF6气体绝缘介质因其优异的绝缘和灭弧性能而被广泛应用到SF6气体绝缘设备中。然而设备运行过程中，一些起初无害的缺陷在高压的作用下日益突出，慢慢从局部放电发展到火花放电，甚至出现电弧放电，严重威胁了设备的正常运行和电网的稳定工作。经前期调研发现SF6气体绝缘介质在火花放电故障作用下也会发生分解，通过对火花放电下SF6分解组分种类及其含量变化规律的研究，可有效反应设备故障类型及其严重程度。已有研究表明：SF6在火花放电过程中将与设备内的微量水分和氧气等杂质发生一系列复杂的化学反应，生成众多的含硫、含碳气体分解产物。这些气体分解产物的生成特性受火花放电能量、金属电极材料、微量水分、氧气和固体绝缘材料等诸多因素的影响。然而设备内的气体杂质(微量水分、氧气含量)及其工作气压是显著影响SF6气体火花放电分解过程的三大关键性因素，它们将导致基于SF6分解气体组分分析法的故障监测系统识别率显著降低，甚至严重失效。

发明内容

有鉴于现有技术的上述缺陷，本发明的目的就是提供一种SF6火花放电分解杂质分析方法及装置，用以建立SF6火花放电分解杂质的数学模型，实现对SF6火花放电的定量分析。

本发明的目的之一是通过这样的技术方案实现的，一种SF6火花放电分解杂质分析方法，包括如下步骤：

通过预先确定的拟合模型对SF6分解组分产量与杂质含量之间的关联模型进行拟合，获取拟合参数，其中，所述关联模型根据预先确定的SF6火花放电分解产物和反应物之间的关联关系建立；

根据所述拟合参数对所述关联模型进行校正，以获得校正模型；

基于所述校正模型确定SF6火花放电分解的杂质含量。

可选的，预先确定SF6火花放电分解产物和反应物之间的关联关系，包括：

基于化学反应动力学理论确定SF6火花放电的二级反应速率；

根据所述二级反应速率确定SF6火花放电特征产物的体积分数；

根据所述体积分数确定SF6火花放电分解产物和反应物之间的关联关系。

可选的，所述根据所述体积分数确定SF6火花放电分解产物和反应物之间的关联关系，包括：

根据所述体积分数以及与所述杂质含量相关的分解组分确定SF6火花放电分解产物和反应物之间的关联关系。

可选的，预先确定拟合模型，包括：

根据所述关联模型确定的拟合函数构建拟合模型。

可选的，通过预先确定的拟合模型对SF6分解组分产量与杂质含量之间的关联模型进行拟合，以获取拟合参数，包括：

根据SF6火花放电分解的历史相关数据通过所述拟合函数进行拟合；

基于拟合结果确定拟合参数。

可选的，根据所述拟合参数对所述关联模型进行校正，以获得校正模型之后，还包括：

确定SF6火花放电分解的分产量比值的实测值和所述校正模型的计算值之间的偏相关系数；