[发明专利]检测测试位与测试机接口是否接错的方法及芯片测试系统

权利要求书

1.一种芯片测试系统，包括芯片测试板和测试机，所述测试机包括电源模块、测量模块以及处理模块，所述芯片测试板设有至少两芯片测试位，每一所述芯片测试位通过一连接器与测试机接口接线连接，其特征在于，各所述连接器分别串联一电阻，各所述电阻的阻值不同，所述电源模块输出激励信号至各所述电阻，所述处理模块借由所述测量模块采集各所述电阻的响应信号，所述处理模块还分别比对各所述电阻的响应信号与预设信号，并根据比对结果判断各所述连接器与所述测试机的各接口之间是否接错。

2.如权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，所述激励信号为电流信号，所述响应信号为电压信号，所述预设信号为一电压区间，若任一所述电阻的响应信号位于相应的电压区间之外，所述处理模块判断所述连接器与所述测试机的接口之间存在接错，并输出告警信号。

3.如权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，所述激励信号为电压信号，所述响应信号为电流信号，所述预设信号为一电流区间，若任一所述电阻的响应信号位于相应的电流区间之外，所述处理模块判断所述连接器与所述测试机的接口之间存在接错，并输出告警信号。

4.如权利要求1至3任一项所述的芯片测试系统，其特征在于，所述芯片测试板设有两所述芯片测试位，所述电阻的数目为两个，其中一所述电阻的阻值为另一所述电阻的阻值的两倍。

5.如权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，所述连接器为牛角连接器，所述连接器通过cable线与所述测试机的接口接线连接。

6.如权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，还包括搬运装置，所述搬运装置通过走步线与所述测试机通讯连接，用于依据所述测试机的测试结果将所述芯片测试位的芯片下料。

7.一种检测芯片测试板的测试位与测试机接口是否接错的方法，所述芯片测试板设有至少两芯片测试位，每一所述芯片测试位通过一连接器与测试机接口接线连接，其特征在于，该方法包括：

提供阻值不同的若干个电阻，并使各所述连接器分别串联一所述电阻；

通过所述测试机输出激励信号至各所述电阻，并采集各所述电阻的响应信号；

分别比对各所述电阻的响应信号与预设信号，根据比对结果判断各所述连接器与所述测试机的各接口之间是否接错。

8.如权利要求7所述的检测芯片测试板的测试位与测试机接口是否接错的方法，其特征在于，所述激励信号为电流信号，所述响应信号为电压信号，所述预设信号为一电压区间，若任一所述电阻的响应信号位于相应的电压区间之外，判断所述连接器与所述测试机的接口之间存在接错，并输出告警信号。

9.如权利要求7所述的检测芯片测试板的测试位与测试机接口是否接错的方法，其特征在于，所述激励信号为电压信号，所述响应信号为电流信号，所述预设信号为一电流区间，若任一所述电阻的响应信号位于相应的电流区间之外，判断所述连接器与所述测试机的接口之间存在接错，并输出告警信号。

10.如权利要求7至9任一项所述的检测芯片测试板的测试位与测试机接口是否接错的方法，其特征在于，所述芯片测试板设有两所述芯片测试位，所述电阻的数目为两个，其中一所述电阻的阻值为另一所述电阻的阻值的两倍。