[发明专利]DSP芯片测试装置及方法

权利要求书

1.一种DSP芯片测试装置，其特征在于，所述测试装置包括服务器和FPGA芯片，所述服务器和所述FPGA芯片通信连接；

所述FPGA芯片用于：接收来自服务器的DSP芯片测试指令、DSP芯片测试参数，将所述DSP芯片测试指令、DSP芯片测试参数输入到待测试的DSP芯片进行测试，并在获取到待测试的DSP芯片的DSP芯片测试结果后，将所述DSP芯片测试结果发送至所述服务器；其中，所述DSP芯片测试结果包括DSP芯片运算结果；

所述FPGA芯片包括DMA控制逻辑模块、PCIE接口逻辑模块、测试指令数据缓存模块、DSP参数配置处理模块、DSP测试结果RAM模块，所述PCIE接口逻辑模块、测试指令数据缓存模块、DSP参数配置处理模块、DSP测试结果RAM模块分别与所述DMA控制逻辑模块连接；

所述PCIE接口逻辑模块用于实现FPGA芯片与服务器之间的PCIE传输协议通信；

所述测试指令数据缓存模块用于存储DSP芯片测试指令的机器码；

所述DSP参数配置处理模块用于存储DSP芯片测试参数；

所述DSP测试结果RAM模块用于存储DSP芯片的运算结果；

所述DMA控制逻辑模块用于根据服务器下发的指令协调各模块数据的发送、处理和存储；

通过服务器操作界面，测试过程中可以实时配置测试参数和在线更新测试指令而无需修改FPGA测试工程代码。

2.如权利要求1所述的DSP芯片测试装置，其特征在于，所述服务器和所述FPGA芯片通过PCIE传输协议实现通信连接。

3.如权利要求1所述的DSP芯片测试装置，其特征在于，所述FPGA芯片还包括DSP数据解码模块，所述DSP数据解码模块分别与所述DMA控制逻辑模块以及DSP测试结果RAM模块连接；

所述DSP数据解码模块用于：对原始的DSP芯片的运算结果进行解码，以便于提取运算数据保存在相应的DSP测试结果RAM模块中。

4.如权利要求1所述的DSP芯片测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括FPGA测试板卡，所述FPGA芯片安装在所述FPGA测试板卡上。

5.如权利要求1所述的DSP芯片测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括DSP测试板卡，所述待测试的DSP芯片安装在所述DSP测试板卡上。

6.一种DSP芯片测试方法，其特征在于，设置有服务器、FPGA芯片、待测试的DSP芯片，服务器和待测试的DSP芯片分别与所述FPGA芯片通信连接，所述测试方法包括：

接收来自服务器的DSP芯片测试指令、DSP芯片测试参数，将所述DSP芯片测试指令、DSP芯片测试参数输入到待测试的DSP芯片进行测试；

在获取到待测试的DSP芯片的DSP芯片测试结果后，将所述DSP芯片测试结果发送至所述服务器；其中，所述DSP芯片测试结果包括DSP芯片运算结果；

所述接收来自服务器的DSP芯片测试指令、DSP芯片测试参数，具体包括以下步骤：

利用DMA控制FPGA芯片通过PCIE传输协议接收来自服务器的DSP芯片测试指令、DSP芯片测试参数；

通过服务器操作界面，测试过程中可以实时配置测试参数和在线更新测试指令而无需修改FPGA测试工程代码。

7.根据权利要求6所述的一种DSP芯片测试方法，其特征在于，所述服务器和所述FPGA芯片通过PCIE传输协议实现通信连接。

8.根据权利要求6所述的一种DSP芯片测试方法，其特征在于，所述在获取到待测试的DSP芯片的DSP芯片测试结果后，将所述DSP芯片测试结果发送至所述服务器，具体包括以下步骤：

在获取到待测试的DSP芯片的DSP芯片测试结果后，对原始的DSP芯片的运算结果进行解码，将解码后的所述DSP芯片测试结果发送至所述服务器。