[发明专利]DSP芯片测试装置及方法

说明书

本发明公开了一种DSP芯片测试装置及方法，针对目前DSP芯片测试方法中存在的测试效率低和测试过程繁琐的问题，提供了一种DSP芯片自动化测试实现装置。基于此装置，可以实现在DSP芯片上电的一次测试中随时改变测试参数和测试指令。与目前常用的DSP芯片测试方法相比，DSP芯片测试装置在完成基本DSP芯片测试功能的基础上，增加了FPGA与服务器的数据传输通道，使测试工作与各项参数的配置更加灵活。通过服务器操作界面，测试过程中可以实时配置测试参数和在线更新测试指令而无需修改FPGA测试工程代码。

技术领域

本发明涉及DSP芯片测试技术领域，特别涉及一种DSP芯片测试装置及方法。

背景技术

随着国产数字信号处理芯片的发展，DSP芯片的研发初期，在没有完整的DSP芯片使用开发工具之前需要对DSP芯片功能进行测试，往往需要使用基于FPGA的测试平台对DSP芯片进行测试。目前常用的DSP芯片测试装置是：针对DSP芯片特性，设计FPGA测试电路板与相应的DSP芯片管脚连接，与DSP芯片实现通信，从而对DSP芯片的功能进行测试。

相关技术中的具体测试步骤为：第一步，FPGA上电复位完成后进入工作状态，DSP芯片初始状态配置信息均在FPGA复位完成后按预定值输出。第二步，FPGA在数据传输中处于master模式，按照数据发送时序从FPGA预先存储的数据ROM里将DSP测试指令数据发送给DSP芯片。第三步，FPGA在数据传输中处于slave模式，按照数据接收时序从IO端口处接收DSP测试结果并存在相应的结果RAM里，测试人员通过串口数据通道访问FPGA内部的测试结果数据RAM，并根据DSP测试结果数据判断DSP芯片相应功能的正确性。

该技术框架下的DSP芯片测试方法实现了对DSP芯片测试指令的输入和测试结果数据的采集，但是每一次测试只能测试预先存储在FPGA数据ROM里的测试用例和测试参数，测试用例的更换和改变测试参数需要重新修改FPGA测试工程代码，而且需用使用串口通信的方式将测试结果从FPGA中提取出来，测试效率较低，测试过程繁琐。

发明内容

本发明的目的在于至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提供一种DSP芯片测试装置及方法，解决DSP芯片测试中，每一次测试只能测试预先存储在FPGA数据ROM里的测试用例和测试参数，导致测试效率较低、测试过程繁琐的技术问题。

第一方面，本发明实施例提供一种DSP芯片测试装置，所述测试装置包括服务器和FPGA芯片，所述服务器和所述FPGA芯片通信连接；

所述FPGA芯片用于：接收来自服务器的DSP芯片测试指令、DSP芯片测试参数，将所述DSP芯片测试指令、DSP芯片测试参数输入到待测试的DSP芯片进行测试，并在获取到待测试的DSP芯片的DSP芯片测试结果后，将所述DSP芯片测试结果发送至所述服务器；其中，所述DSP芯片测试结果包括DSP芯片运算结果。

作为进一步的改进，所述服务器和所述FPGA芯片通过PCIE传输协议实现通信连接。

作为进一步的改进，所述FPGA芯片包括DMA控制逻辑模块、PCIE接口逻辑模块、测试指令数据缓存模块、DSP参数配置处理模块、DSP测试结果RAM模块，所述PCIE接口逻辑模块、测试指令数据缓存模块、DSP参数配置处理模块、DSP测试结果RAM模块分别与所述DMA控制逻辑模块连接；

所述PCIE接口逻辑模块用于实现FPGA芯片与服务器之间的PCIE传输协议通信；

所述测试指令数据缓存模块用于存储DSP芯片测试指令的机器码；

所述DSP参数配置处理模块用于存储DSP芯片测试参数；

所述DSP测试结果RAM模块用于存储DSP芯片的运算结果；

所述DMA控制逻辑模块用于根据服务器下发的指令协调各模块数据的发送、处理和存储。