[发明专利]一种辐射成像探测方法和装置

说明书

本申请提供了一种辐射成像探测方法和装置，通过在探测器的一端集成两条通道，或分别在探测器的两端同时分别采集一定时间内射线或粒子的积分和和计数值，用于进行图像分析和重建，既能实现高强度、大动态范围的测量，又能在相对较低的计数率下获取粒子能量等信息，以实现更好的图像和物质成分分辨，以及降低辐射成像所需剂量。可见本方案能够在降低辐射成像所需的剂量的前提下，提高图像的分辨率。

技术领域

本发明涉及辐射成像技术领域，特别涉及一种辐射成像探测方法和装置。

背景技术

在一个辐射成像系统中，射线或粒子与被检测物体发生作用后形成的透射、散射或衍射图像往往与物质内部结构和成分等有关；而透射、散射或衍射图像通常通过辐射强度的位置分布来探测。

现有辐射强度的测量主要有独立的积分和计数两种方式，以X射线成像为例：

积分型探测把一段时间内所有X射线光子产生的电流进行积分，把积分得到的电荷值作为X射线的强度。

积分型探测结构简单、可探测的强度范围很大，是目前医疗和工业X射线成像系统主要采用的方式。但这种探测方式无法区分单个X射线能量，因此需要其他方式才能实现双能探测，但这就意味着需要更高的辐射剂量。

计数型探测把每个X射线光子在探测器中产生的信号进行放大和甄别，并记录一段时间内的光子数目作为X射线的强度。

计数型探测可以获得单个X射线的能量信息，通过设置多个能窗阈值可以实现双能甚至多能成像，从而提高图像分辨和降低剂量。但这种探测方式对探测器的时间响应要求很高，随着入射X射线强度增大、探测器信号堆积变得严重，导致计数损失和能谱畸变。

发明内容

有鉴于此，本申请提供一种辐射成像探测方法和装置，能够在降低辐射成像所需的剂量的前提下，提高图像的分辨率。

为解决上述技术问题，本申请的技术方案是这样实现的：

在一个实施例中，提供了一种辐射成像探测方法，在探测器的读出电路中集成两个信号处理通道，所述两个信号处理通道为积分通道和计数通道；所述方法包括：

通过所述积分通道对探测器信号进行积分处理；

通过所述计数通道将所述探测器信号进行计数处理；

将积分处理的积分结果和所述计数处理的计数结果输出到所述成像平台，使所述成像平台根据设置的辐射强度的范围，以及所述积分结果和计数结果进行图像分析和重建。

在另一个实施例中，提供了一种辐射成像探测方法，所述方法包括：

针对探测器通过两端分别读出探测探测器信号；

通过其中一端读出探测器信号时进行积分处理；

通过另一端读出探测器信号时进行计数处理；

将积分处理的积分结果和所述计数处理的计数结果输出到所述成像平台，使所述成像平台根据设置的辐射强度的范围，以及所述积分结果和计数结果进行图像分析和重建。

在另一个实施例中，提供了一种辐射成像探测装置，在探测器的读出电路中集成两个信号处理通道，所述两个信号处理通道为积分通道和计数通道；所述装置包括：积分单元、计数单元和输出单元；

所述积分单元，用于通过所述积分通道对探测器信号进行积分处理；

所述计数单元，用于通过所述计数通道将所述探测器信号进行计数处理；

所述输出单元，用于将所述积分单元进行积分处理的积分结果和所述计数单元进行计数处理的计数结果输出到所述成像平台，使所述成像平台根据设置的辐射强度的范围，以及所述积分结果和计数结果进行图像分析和重建。