[发明专利]一种辐射成像探测方法和装置

权利要求书

1.一种辐射成像探测方法，其特征在于，在探测器的读出电路中集成两个信号处理通道，所述两个信号处理通道为积分通道和计数通道；所述方法包括：

通过所述积分通道对探测器信号进行积分处理；

通过所述计数通道将所述探测器信号进行计数处理；

将积分处理的积分结果和所述计数处理的计数结果输出到所述成像平台，使所述成像平台根据设置的辐射强度的范围，以及所述积分结果和计数结果进行图像分析和重建。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，当所述探测器为直接探测器，或采用发光二极管PD读出的间接探测器时，所述通过所述积分通道对探测器信号进行积分处理；通过所述计数通道将所述探测器信号进行计数处理，包括：

将探测器信号通过开关积分器处理；

将所述开关积分器处理后的探测器信号分为两路子信号；

将其中的一路子信号依次通过相关双采样电路CDS和模数转换器ADC处理；

将另一路子信号依次通过成型电路、甄别器和计数器进行处理。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法进一步包括：

所述开关积分器在每个积分和计数周器复位并重新打开。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，当所述探测器为采用硅光电倍增管SiPM读出的间接探测器时，所述通过所述积分通道对探测器信号进行积分处理；通过所述计数通道将所述探测器信号进行计数处理，包括：

将所述探测器信号通过电流灵敏前放进行处理获得电压信号；

将所述电压信号分为两路电压子信号；

将其中一路电压子信号进行信号衰减后，依次通过开关积分器、CDS和ADC进行处理；

将其中的另一路电压子信号依次通过成型电路、甄别器和计数器进行处理。

5.一种辐射成像探测方法，其特征在于，所述方法包括：

针对探测器通过两端分别读出探测探测器信号；

通过其中一端读出探测器信号时进行积分处理；

通过另一端读出探测器信号时进行计数处理；

将积分处理的积分结果和所述计数处理的计数结果输出到所述成像平台，使所述成像平台根据设置的辐射强度的范围，以及所述积分结果和计数结果进行图像分析和重建。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，当所述探测器为采用发光二极管PD读出的间接探测器时，通过两端分别读出的探测器信号各占总信号的一半，探测器的信号的极性由PD读出；

当所述探测器为采用硅光电倍增管SiPM读出的间接探测器时，通过两端分别读出的探测器信号各占总信号的一半，探测器信号的极性由SiPM读出；

当所述探测器为直接探测器时，通过两端分别读出的探测器信号的幅度相同，极性相反。

7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，当所述探测器为直接探测器，或采用PD读出的间接探测器时，所述通过其中一端读出探测器信号时进行积分处理，包括：

对探测器信号依次通过开关积分器、相关双采样电路CDS和模数转换器ADC处理

所述通过另一端读出探测器信号时进行计数处理，包括：

对所述探测探测器信号依次通过电荷灵敏前放、成型电路、甄别器和计数器进行处理。

8.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，当所述探测器为采用SiPM读出的间接探测器时，所述通过其中一端读出探测器信号时进行积分处理，包括：

对探测器信号依次通过电流灵敏前放、开关积分器、CDS和ADC处理

所述通过另一端读出探测器信号时进行计数处理，包括：

对所述探测器信号依次通过电荷灵敏前放、成型电路、甄别器和计数器进行处理。