[发明专利]平面参数设置的方法、装置、电子装置和存储介质在审

专利信息
申请号: 202010733229.1 申请日: 2020-07-27
公开(公告)号: CN111967342A 公开(公告)日: 2020-11-20
发明(设计)人: 张高明 申请(专利权)人: 杭州易现先进科技有限公司
主分类号: G06K9/00 分类号: G06K9/00;G06K9/46
代理公司: 杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250 代理人: 陈涵
地址: 311200 浙江省杭州*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 平面 参数设置 方法 装置 电子 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种平面参数设置的方法,其特征在于,所述方法包括:

获取检测场景中的角点,计算所述角点的角点参数;

根据所述角点参数与预设参数阈值的对比结果,判断所述检测场景中的三维点云的等级;

根据所述三维点云的等级,设置所述检测场景的平面参数。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述角点参数与预设参数阈值的对比结果,判断所述检测场景中的三维点云的等级包括:

计算所述角点的角点总数,在所述角点总数小于预设检测参数的情况下,判定所述三维点云的等级为第一等级,其中,根据预设检测总数与第一检测比例的乘积得到所述预设检测参数。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述角点参数与预设参数阈值的对比结果,判断所述检测场景中的三维点云的等级还包括:

获取所述角点的响应值,计算所述响应值低于预设响应阈值的角点的数量,记为角点响应数量;

在所述角点响应数量大于预设响应参数的情况下,判定所述三维点云的等级为所述第一等级,其中,根据所述角点总数与第二检测比例的乘积得到所述预设响应参数。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述角点参数与预设参数阈值的对比结果,判断所述检测场景中的三维点云的等级还包括:

计算所述角点的响应值的中位数,在所述中位数小于预设中位数的情况下,判定所述三维点云的等级为第一等级。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述角点参数与预设参数阈值的对比结果,判断所述检测场景中的三维点云的等级还包括:

在所述角点参数满足预设参数范围的情况下,判定所述检测场景对应的三维点云的等级为第一等级,或者,在所述角点参数不满足所述预设参数范围的情况下,判定所述检测场景对应的三维点云的等级为第二等级,其中,所述预设参数范围根据所述预设参数阈值确定。

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述三维点云的等级,设置所述检测场景的平面参数包括:

所述平面参数包括平面面积、平面厚度与所述三维点云的占比,在所述三维点云的等级为第一等级的条件下,设置所述平面面积为第一面积,所述平面厚度为第一厚度,所述占比为第一占比,或者,

在所述三维点云的等级为第二等级的条件下,设置所述平面面积为第二面积,所述平面厚度为第二厚度,所述占比为第二占比,其中,所述第一面积大于所述第二面积,所述第一厚度大于所述第二厚度,所述第一占比小于所述第二占比,且所述占比根据所述平面中的三维点云的数目与输入的三维点云的数目得到。

7.一种平面参数设置的装置,其特征在于,所述装置包括获取模块、判断模块和设置模块:

所述获取模块,用于获取检测场景中的角点,计算所述角点的角点参数;

所述判断模块,用于根据所述角点参数与预设参数阈值的对比结果,判断所述检测场景中的三维点云的等级;

所述设置模块,用于根据所述三维点云的等级,设置所述检测场景的平面参数。

8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述判断模块包括角点总数判断单元:

所述角点总数判断单元,用于计算所述角点的角点总数,在所述角点总数小于预设检测参数的情况下,判定所述三维点云的等级为第一等级,其中,根据预设检测总数与第一检测比例的乘积得到所述预设检测参数。

9.一种电子装置,包括存储器和处理器,其特征在于,所述存储器中存储有计算机程序,所述处理器被设置为运行所述计算机程序以执行权利要求1至6中任一项所述的平面参数设置的方法。

10.一种存储介质,其特征在于,所述存储介质中存储有计算机程序,其中,所述计算机程序被设置为运行时执行权利要求1至6中任一项所述的平面参数设置的方法。

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