[发明专利]用于芯片的测试的方法、设备、存储介质和相应的芯片

说明书

本申请公开了用于芯片的测试的方法、设备、存储介质和相应的芯片，涉及芯片领域。该芯片包括运算模块。该方法包括：经由该芯片的第一管脚，接收指示该运算模块的测试类型的测试控制信号；基于该测试控制信号所指示的该测试类型，利用第一测试向量对该运算模块执行第一测试；或者利用第二测试向量对该运算模块执行第二测试，其中该第一测试是对该运算模块的存储器进行的测试，该第二测试是对该运算模块的功能逻辑进行的测试。本公开的实施例能够提供一种能够减小管脚数目并且有效控制测试成本的测试方案。

技术领域

本公开主要涉及芯片领域，并且更具体地，涉及用于芯片的测试的方法和相应的芯片。本公开还涉及一种用于芯片的测试的电子设备和计算机可读存储介质。

背景技术

在人工智能(AI)芯片领域，需要对芯片进行测试，从而判断芯片的内部结构是否正常。在测试期间，需要经由芯片的管脚从外部输入测试向量，通过返回的测试结果来进行上述判断。由于芯片的管脚是宝贵的资源，如何避免芯片测试所引起的芯片管脚的增加，是设计者期望实现的一个目标。

发明内容

根据本公开提供了一种用于芯片的测试的方法、电子设备以及计算机可读存储介质和相应的芯片。

在本公开的第一方面中，提供了一种用于芯片的测试的方法。该芯片包括运算模块。该方法包括：经由芯片的第一管脚，接收指示运算模块的测试类型的测试控制信号；基于测试控制信号所指示的测试类型，利用第一测试向量对运算模块执行第一测试；或者利用第二测试向量对运算模块执行第二测试，其中第一测试是对运算模块的存储器进行的测试，第二测试是对运算模块的功能逻辑进行的测试。

在本公开的第二方面中，提供了一种芯片。该芯片包括运算模块、第一管脚和控制器。该第一管脚耦接至运算模块并且被配置为接收指示运算模块的测试类型的测试控制信号。该控制器耦接至第一管脚和运算模块并且被配置为基于测试控制信号所指示的测试类型，利用第一测试向量对运算模块执行第一测试或者利用第二测试向量对运算模块执行第二测试，其中第一测试是对运算模块的存储器进行的测试，第二测试是对运算模块的功能逻辑进行的测试。

在本公开的第三方面中，提供了一种电子设备，该电子设备包括一个或多个处理器；以及存储器，用于存储一个或多个程序，当一个或多个程序被一个或多个处理器执行时，使得该电子设备实现根据本公开的第一方面的方法。

在本公开的第四方面中，提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现根据本公开的第一方面的方法。

在本公开的第五方面中，提供了一种计算机程序产品，该计算机程序产品包括计算机程序，该计算机程序在被处理器执行时实现根据本公开的第一方面的方法。

根据本申请的技术解决了传统的用于芯片的测试受制于管脚数目的问题。根据本公开，提供了一种改进的用于芯片的测试的方案，该方案可以避免测试引起芯片管脚数目的增加，并且能够加速芯片测试，降低测试成本。

应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本公开的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本公开的范围。本公开的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。

附图说明

结合附图并参考以下详细说明，本公开的上述和其他特征、优点及方面将变得更加明显。应当理解，附图用于更好地理解本方案，不构成对本申请的限定。在附图中，相同或相似的附图标注表示相同或相似的元素，其中：

图1示出了根据本公开的多个实施例的用于芯片的测试方案在其中实现的示例环境的示意图；

图2示出了根据本公开的多个实施例的用于芯片的测试过程的流程图；

图3示出了根据本公开的实施例的控制器的示意图；

图4至图5分别示出了根据本公开的多个实施例的用于芯片的时钟控制电路结构的示意图；以及