[发明专利]多角度低对比度划痕提取方法、装置及存储介质

说明书

本发明公开了一种多角度低对比度划痕提取方法，其包括如下步骤：获取待测图像；对所述待测图像进行预处理，得到目标区域ROI；对所述目标区域ROI按照预设的比例因子进行缩放处理，得到第一处理区域Roi_Scale_Image；对所述第一处理区域Roi_Scale_Image进行划痕加强处理，得到第二处理区域Roi_After_Fft；对所述第二处理区域Roi_After_Fft进行划痕提取处理；将划痕提取处理后的所述第二处理区域Roi_After_Fft仿射回所述待测图像，以得到目标图像；本发明能检测部分高噪声下的低对比度划痕，且有效降低划痕缺陷漏检率；本发明还公开了多角度低对比度划痕提取装置和存储介质。

技术领域

本发明涉及自动光学检测领域领域，尤其涉及多角度低对比度划痕提取方法、装置及存储介质。

背景技术

随着消费类电子产品的大大普及，消费者对于笔记本外观的质量要求越来越高。苹果笔记本(Macbook)采用铝合金阳极氧化做笔记本外壳，其在生产过程中不可避免的会产生一些诸如脏污、黑点、划痕等缺陷，目前挑拣出表面有缺陷的质量控制操作大部分需要依靠人工来完成。划痕作为一种严重的表面缺陷，由于该缺陷在深度、长度、角度差异较大，给人工检测带来很大的难度，人工很难在满足质量保证的同时，兼顾生产效率的需求。

对于一些在图像中表面比较明显，即对比度较高的划痕，基于halcon的gauss检测线算子，可通过设置划痕与背景对比度、划痕宽度、划痕长度等参数，方便快速的将缺陷提取出来。Macbook由于其特殊的表面材质，在光学成像下，有严重的背景噪声，给划痕与背景的分离带来很大干扰，使得现有技术无法在高噪声背景下对划痕尤其是低对比度的刮痕进行有效提取。

因此，亟需一种多角度低对比度划痕提取方法、装置及存储介质来解决上述问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种多角度低对比度划痕提取方法，能检测部分高噪声下的低对比度划痕，且有效降低划痕缺陷漏检率。

本发明的又一目的是提供一种多角度低对比度划痕提取装置，能检测部分高噪声下的低对比度划痕，且有效降低划痕缺陷漏检率。

发明的再一目的是提供一种存储介质，能检测部分高噪声下的低对比度划痕，且有效降低划痕缺陷漏检率。

为了实现上有目的，本发明公开了一种多角度低对比度划痕提取方法，其包括如下步骤：

S1、获取待测图像；

S2、对所述待测图像进行预处理，得到目标区域ROI；

S3、对所述目标区域ROI按照预设的比例因子进行缩放处理，得到第一处理区域Roi_Scale_Image；

S4、对所述第一处理区域Roi_Scale_Image进行划痕加强处理，得到第二处理区域Roi_After_Fft；

S5、对所述第二处理区域Roi_After_Fft进行划痕提取处理；

S6、将划痕提取处理后的所述第二处理区域Roi_After_Fft仿射回所述待测图像，以得到目标图像。

较佳地，所述步骤(2)具体包括如下步骤：

S21、对所述待测图像依次进行图像灰度处理、划痕区域提取及切割处理，得到所述目标区域ROI。

与现有技术相比，本发明通过对待测图像进行预处理、缩放处理、划痕加强处理、划痕提取处理后，将痕提取处理后的第二处理区域Roi_After_Fft仿射回待测图像，以得到目标图像，以提升高噪声背景下的刮痕的对比度，便于对不同对比度刮痕进行有效检测，避免因高噪声背景下的低对比度刮痕不清晰而导致的漏检、错检，有效降低划痕缺陷漏检率。

具体地，所述步骤(21)之后还包括如下步骤：