[发明专利]多角度低对比度划痕提取方法、装置及存储介质

权利要求书

1.一种多角度低对比度划痕提取方法，其特征在于，包括如下步骤：

获取待测图像；

对所述待测图像进行预处理，得到目标区域ROI；

对所述目标区域ROI按照预设的比例因子进行缩放处理，得到第一处理区域Roi_Scale_Image；

对所述第一处理区域Roi_Scale_Image进行划痕加强处理，得到第二处理区域Roi_After_Fft；

对所述第二处理区域Roi_After_Fft进行划痕提取处理；

将划痕提取处理后的所述第二处理区域Roi_After_Fft仿射回所述待测图像，以得到目标图像。

2.如权利要求1所述的多角度低对比度划痕提取方法，其特征在于，所述对所述待测图像进行预处理，得到目标区域ROI，具体包括如下步骤：

对所述待测图像依次进行图像灰度处理、划痕区域提取及切割处理，得到所述目标区域ROI。

3.如权利要求2所述的多角度低对比度划痕提取方法，其特征在于，所述对所述待测图像依次进行图像灰度处理、划痕区域提取及切割处理，得到所述目标区域ROI，之后还包括如下步骤：

记录所述目标区域ROI的坐标值，并建立所述目标区域ROI的坐标值和所述待测图像的对应关系。

4.如权利要求1所述的多角度低对比度划痕提取方法，其特征在于，所述对所述第一处理区域Roi_Scale_Image进行划痕加强处理，得到第二处理区域Roi_After_Fft，具体包括如下步骤：

对所述第一处理区域Roi_Scale_Image进行傅里叶变换处理，以将所述第一处理区域Roi_Scale_Image的信号由空间域转化为频率域；

每间隔一预设角度时生成一转换角度，在所述第一处理区域Roi_Scale_Image的频率域中生成一由转换角度Phi确定的空间域中滤波器的主方向的高斯滤波器；

依据所述高斯滤波器对所述第一处理区域Roi_Scale_Image的频率域进行滤波，并加强所述第一处理区域Roi_Scale_Image的频率域在特定方向上的划痕；

对所述第一处理区域Roi_Scale_Image的频率域进行傅里叶逆变换处理，以将所述第一处理区域Roi_Scale_Image的信号由频率域转化为空间域；

将所述第一处理区域Roi_Scale_Image的空间域标记为所述第二处理区域Roi_After_Fft。

5.如权利要求4所述的多角度低对比度划痕提取方法，其特征在于，所述对所述第二处理区域Roi_After_Fft进行划痕提取处理，具体包括如下步骤：

对所述第二处理区域Roi_After_Fft进行常规的高斯亚像素精度处理，以提取所述第二处理区域Roi_After_Fft的划痕；

依据预设的形态学参数连接相邻划痕；

依据预设的划痕参数对所述第二处理区域Roi_After_Fft的划痕进行筛选过滤；

提取经过筛选过滤后的所述第二处理区域Roi_After_Fft的划痕。

6.如权利要求5所述的多角度低对比度划痕提取方法，其特征在于：对每间隔一预设角度时生成的转换角度Phi均建立一独立线程，以执行对应的转换角度Phi下的步骤。

7.如权利要求4所述的多角度低对比度划痕提取方法，其特征在于：所述转换角度Phi介于0°至180°之间。

8.如权利要求1所述的多角度低对比度划痕提取方法，其特征在于，所述将划痕提取处理后的所述第二处理区域Roi_After_Fft仿射回所述待测图像，以得到目标图像，具体包括如下步骤：

计算所述待测图像和所述第二处理区域Roi_After_Fft的仿射矩阵；

依据所述仿射矩阵将所述第二处理区域Roi_After_Fft提取得到的划痕仿射回所述待测图像，以得到目标图像。