[发明专利]校正扫描图像的方法和装置以及图像扫描系统

说明书

本公开提出一种校正扫描图像的方法和装置以及图像扫描系统，涉及图像扫描领域。该方法包括：获取被扫描对象的扫描图像；从所述扫描图像中检测一个或多个参照物；根据预设的参照物的标准参数，确定每个参照物的变形参数；根据所述一个或多个参照物的变形参数，对所述扫描图像进行校正。通过从扫描图像中检测参照物，根据参照物的变形参数，对扫描图像进行校正，以改善扫描图像变形的问题，提高检测效果。

技术领域

本公开涉及图像扫描领域，特别涉及一种校正扫描图像的方法和装置以及图像扫描系统。

背景技术

图像扫描系统向被扫描对象发射某种射线，形成辐射图像，以实现对被扫描对象的检测。

发明人发现，在图像扫描系统与被扫描对象之间的相对移动速度与图像扫描系统的扫描参数(如射线源的出束频率或飞轮转数等)不匹配的情况下，扫描图像会发生变形，影响检测效果。

发明内容

本公开实施例所要解决的一个技术问题是：由于图像扫描系统与被扫描对象之间的相对移动速度与图像扫描系统的扫描参数不匹配所造成的扫描图像变形的问题。

本公开实施例通过从扫描图像中检测参照物，根据参照物的变形参数，对扫描图像进行校正，以改善扫描图像变形的问题，提高检测效果。

本公开一些实施例提出一种校正扫描图像的方法，包括：

获取被扫描对象的扫描图像；

从所述扫描图像中检测一个或多个参照物；

根据预设的参照物的标准参数，确定每个参照物的变形参数；

根据所述一个或多个参照物的变形参数，对所述扫描图像进行校正。

在一些实施例中，对所述扫描图像进行校正包括：

在从所述扫描图像中检测到多个参照物且所述多个参照物的变形参数不同的情况下，根据每个参照物的变形参数对所述扫描图像中的不同部分的图像分别进行校正；

或者，在从所述扫描图像中检测到多个参照物且所述多个参照物的变形参数相同的情况下，根据所述相同的变形参数对整个的所述扫描图像进行校正；

或者，在从所述扫描图像中检测到一个参照物的情况下，根据所述一个参照物的变形参数对整个的所述扫描图像进行校正。

在一些实施例中，在从所述扫描图像中检测到多个参照物且所述多个参照物的变形参数不同的情况下，根据每个参照物的变形参数对所述扫描图像中的不同部分的图像分别进行校正，包括：

根据多个参照物的位置和数量，将所述扫描图像划分为相同数量的多个部分，不同的参照物被划分在所述扫描图像的不同的部分；

根据每个参照物的变形参数对所述扫描图像中的所述参照物所在部分的图像分别进行校正。

在一些实施例中，在从所述扫描图像中检测到多个参照物且所述多个参照物的变形参数不同的情况下，根据每个参照物的变形参数对所述扫描图像中的不同部分的图像分别进行校正，包括：

在所述扫描图像中的相邻两个参照物之间设置一个或多个过渡区域，所述一个或多个过渡区域的变形参数根据所述相邻两个参照物的变形参数确定；

将所述扫描图像划分为每个参照物所在的部分以及相邻两个参照物之间的一个或多个过渡区域；

根据每个参照物的变形参数对所述扫描图像中的所述参照物所在部分的图像分别进行校正；

根据每个过渡区域的变形参数对相应过渡区域的图像分别进行校正。