[发明专利]校正扫描图像的方法和装置以及图像扫描系统

权利要求书

1.一种校正扫描图像的方法，其特征在于，包括：

获取被扫描对象的扫描图像；

从所述扫描图像中检测一个或多个参照物；

根据预设的参照物的标准参数，确定每个参照物的变形参数；

根据所述一个或多个参照物的变形参数，对所述扫描图像进行校正。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，对所述扫描图像进行校正包括：

在从所述扫描图像中检测到多个参照物且所述多个参照物的变形参数不同的情况下，根据每个参照物的变形参数对所述扫描图像中的不同部分的图像分别进行校正；

或者，在从所述扫描图像中检测到多个参照物且所述多个参照物的变形参数相同的情况下，根据所述相同的变形参数对整个的所述扫描图像进行校正；

或者，在从所述扫描图像中检测到一个参照物的情况下，根据所述一个参照物的变形参数对整个的所述扫描图像进行校正。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在从所述扫描图像中检测到多个参照物且所述多个参照物的变形参数不同的情况下，根据每个参照物的变形参数对所述扫描图像中的不同部分的图像分别进行校正，包括：

根据多个参照物的位置和数量，将所述扫描图像划分为相同数量的多个部分，不同的参照物被划分在所述扫描图像的不同的部分；

根据每个参照物的变形参数对所述扫描图像中的所述参照物所在部分的图像分别进行校正。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在从所述扫描图像中检测到多个参照物且所述多个参照物的变形参数不同的情况下，根据每个参照物的变形参数对所述扫描图像中的不同部分的图像分别进行校正，包括：

在所述扫描图像中的相邻两个参照物之间设置一个或多个过渡区域，所述一个或多个过渡区域的变形参数根据所述相邻两个参照物的变形参数确定；

将所述扫描图像划分为每个参照物所在的部分以及相邻两个参照物之间的一个或多个过渡区域；

根据每个参照物的变形参数对所述扫描图像中的所述参照物所在部分的图像分别进行校正；

根据每个过渡区域的变形参数对相应过渡区域的图像分别进行校正。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，

将相邻两个参照物的变形参数按照相应的加权系数加权求和得到相邻两个参照物之间的每个过渡区域的变形参数，其中，越靠近过渡区域的参照物的加权系数越大。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，从所述扫描图像中检测一个或多个参照物包括：

利用目标检测模型，将参照物作为待检测的目标，从所述扫描图像中检测一个或多个参照物。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述目标检测模型包括：

区域卷积神经网络R-CNN模型，YOLO模型，单次多盒检测器SSD，弱监督目标检测模型WSOD，或者，方向梯度直方图HOG和支持向量机SVM的组合。

8.根据权利要求2-5任一项所述的方法，其特征在于，对所述扫描图像进行校正包括：

如果变形参数表示待校正的图像在垂直方向被拉伸，按照垂直方向的拉伸程度，对待校正的图像在水平方向进行相应校正程度的像素插值处理和在垂直方向进行相应校正程度的像素采样处理中的至少一项；

如果变形参数表示待校正的图像在水平方向被拉伸，按照水平方向的拉伸程度，对待校正的图像在水平方向进行相应校正程度的像素采样处理和在垂直方向进行相应校正程度的像素插值处理中的至少一项；

其中，待校正的图像为整个的所述扫描图像或者所述扫描图像的不同部分的图像。

9.根据权利要求1-7任一项所述的方法，其特征在于，

所述参照物为所述被扫描对象的已知形状或已知尺寸比例的部分。