[发明专利]一种增量式光电编码器绝对位置识别方法有效

专利信息
申请号: 202010708256.3 申请日: 2020-07-22
公开(公告)号: CN111735483B 公开(公告)日: 2021-04-20
发明(设计)人: 韩庆阳 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01D5/347 分类号: G01D5/347
代理公司: 长春众邦菁华知识产权代理有限公司 22214 代理人: 朱红玲
地址: 130000 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要:
搜索关键词: 一种 增量 光电 编码器 绝对 位置 识别 方法
【权利要求书】:

1.一种增量式光电编码器绝对位置识别方法,其特征是:将光电编码盘的图案分成两个编码环,外圈为精码编码环用于产生莫尔条纹,内圈为绝对位置编码环;在绝对位置码道的0゜、90゜、180゜和270゜的四个位置分别插入参考点,每个位置插入三组;其中,0゜位置的三组参考点间的精码刻线数分别为n1和n2,90゜位置的三组参考点间的精码刻线数分别为n3和n4,180゜位置的三组参考点间的精码刻线数分别为n5和n6,270゜位置的三组参考点间的精码刻线数分别为n7和n8;且n1≠n2≠n3≠n4≠n5≠n6≠n7≠n8

当光电编码盘转动完全穿过0゜、90゜、180゜和270゜中的任意一个位置的三组参考点后,获得绝对位置;

该方法由以下步骤实现:

步骤一、系统初始化,设置计数器,寄存器S1,寄存器S2,标识变量F1和F2清零;

步骤二、判断标识变量F1及F2的值是否为1,如果是,寄存器S2赋值,计数器清零,执行步骤七;如果否,执行步骤三;

步骤三、计数器计数;

步骤四、判断编码器是否遇到参考点,如果是,计数器计数,执行步骤五;如果否,返回执行步骤三;

步骤五、判断是否是第一次遇到参考点,如果是,计数器清零,然后计数器再计数,确定编码器运行方向及标识变量F1值为1,并返回步骤四;如果否,执行步骤六;

步骤六、判断是否是第二次遇到参考点,如果是,计数器计数,并确定编码器运行方向及标识变量F2值为1,寄存器S1赋值,计数器清零,执行步骤七;如果否,返回执行步骤二;

步骤七、判断寄存器S1及S2是否满足设置条件,如果是,找到绝对位置,结束;如果否,执行步骤八;

步骤八、判断寄存器S2是否为零,如果是,返回执行步骤三;如果否,返回执行步骤一。

2.根据权利要求1所述的一种增量式光电编码器绝对位置识别方法,其特征在于,步骤七中,寄存器S1及S2是否满足设置条件,具体指:若定义光电编码盘顺时针为正转:当S1=n1时,S2=n2;当S1=n3时,S2=n4;当S1=n5时,S2=n6;当S1=n7时,S2=n8;满足上述四种中的任意一种时,即在正转时找到绝对位置;在光电编码盘反转时:当S1=n2时,S2=n1;当S1=n4时,S2=n3;当S1=n6时,S2=n5;当S1=n8时,S2=n7;满足上述四种中的任意一种即在反转时找到绝对位置;若定义光电编码盘逆时针为正转 ,原理与上述相同。

3.根据权利要求1所述的一种增量式光电编码器绝对位置识别方法,其特征在于,所述光电编码盘分成8个区域,分别为0゜、90゜、180゜、270゜以及它们之间的四个区域;所述8个区域受到污染的概率分别为:P1、P2、P3、P4、P5、P6、P7和P8,8个概率均小于1;四个绝对位置同时受污染失效的概率为:

P绝对位置=P1×P2×P3×P4

概率P绝对位置小于P1、P2、P3、P4。

4.根据权利要求1所述的一种增量式光电编码器绝对位置识别方法,其特征在于,在绝对位置的选取上,选取360゜圆周上的任意位置,或在一个或多个位置设置多组参考点的绝对位置。

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