[发明专利]光学检测单元、光学检测装置和电子设备

权利要求书

1.一种光学检测单元，其特征在于，所述光学检测单元用于接收透过一个镜头组件的检测光束并转换接收到的检测光束为电信号，所述电信号用于生成图像或感测光强，所述光学检测单元包括：

第一光学芯片，用于接收所述检测光束并转换为电信号，以生成相应的图像；

第二光学芯片，用于接收所述检测光束并转换为电信号，以感测所述检测光束的光强大小。

2.根据权利要求1所述的光学检测单元，其特征在于，所述第一光学芯片和所述第二光学芯片位于所述镜头组件的镜头像圈内。

3.根据权利要求1所述的光学检测单元，其特征在于，所述光学检测单元还包括调光膜，所述调光膜用于透射或散射所述检测光束，所述第一光学芯片接收经过所述调光膜透射的检测光束以生成图像，所述第二光学芯片接收经过所述调光膜透射或散射的检测光束以感测光强。

4.根据权利要求1所述的光学检测单元，其特征在于，所述光学检测单元还包括位于所述第一光学芯片和所述第二光学芯片的上方的调光膜，所述调光膜具有能够透射所述检测光束的透射状态和能够散射所述检测光束的散射状态，所述调光膜在所述第一光学芯片工作时处于透射状态，所述调光膜在所述第二光学芯片工作时处于散射状态。

5.根据权利要求4所述的光学检测单元，其特征在于，所述调光膜被施加电场时处于透射状态，所述调光膜未被施加电场时处于散射状态。

6.根据权利要求5所述的光学检测单元，其特征在于，所述调光膜包括聚合物液晶材料。

7.根据权利要求3所述的光学检测单元，其特征在于，所述光学检测单元还包括滤光片，所述滤光片位于所述第一光学芯片和所述第二光学芯片的上方，所述滤光片位于所述调光膜的上方或下方，所述滤光片用于透射波长在目标波段以内的光束，并阻止波长在目标波段以外的光束透过，所述检测光束的波长在所述目标波段以内。

8.根据权利要求7所述的光学检测单元，其特征在于，所述滤光片为红外截止滤光片，所述检测光束为可见光。

9.根据权利要求7所述的光学检测单元，其特征在于，所述滤光片包括滤光层和阻光层，所述滤光层的部分正对所述第一光学芯片和所述第二光学芯片，所述阻光层具有第一开口和第二开口，所述第一开口的至少部分正对所述第一光学芯片，所述第二开口的至少部分正对所述第二光学芯片，所述滤光层用于透射所述检测光束并阻止波长在目标波段以外的光束透过，所述阻光层用于阻隔光束。

10.根据权利要求9所述的光学检测单元，其特征在于，所述光学检测单元还包括基板，所述第一光学芯片和所述第二光学芯片设置在所述基板上。

11.根据权利要求10所述的光学检测单元，其特征在于，所述光学检测单元还包括支架，所述支架围绕所述滤光片和调光膜设置，所述支架的内侧壁具有用于承载所述滤光片的凸起。

12.根据权利要求1所述的光学检测单元，其特征在于，所述第一光学芯片和所述第二光学芯片的部分或全部集成在同一个芯片封装内，或所述第一光学芯片和所述第二光学芯片各自独立封装。

13.根据权利要求1所述的光学检测单元，其特征在于，所述检测光束包括可见光和/或不可见光。

14.根据权利要求1所述的光学检测单元，其特征在于，所述第一光学芯片为图像传感芯片，所述第二光学芯片为光强检测芯片。

15.一种光学检测装置，其特征在于，包括权利要求1至14中任意一项所述的光学检测单元和位于所述光学检测单元的上方的镜头组件，所述光学检测单元透过所述镜头组件接收检测光束。

16.一种电子设备，其特征在于，包括权利要求1至14中任意一项所述的光学检测单元，或权利要求15所述的光学检测装置。