[发明专利]传感器交叉验证故障诊断方法、装置、计算机设备

说明书

本申请涉及一种传感器交叉验证故障诊断方法、装置、计算机设备和存储介质。该方法包括：获取在工作条件下的待测传感器的测量值；根据待测传感器的类型，将测量值与预设标准值进行对比得到偏差值，其中，不同类型的待测传感器对应不同的预设标准值；将偏差值与预设验证准则进行对比得到对比结果，并根据对比结果获取对应的诊断策略。采用本方法能够通过获取在工作条件下的待测传感器的测量值，将待测传感器的测量值与预设标准值进行对比得到偏差值，然后再将偏差值与预设验证准则进行对比，实现对待测传感器进行交叉验证，最后通过比对结果来获取对应的诊断策略，使得工作人员可以更加方便快捷的通过对应的诊断策略来对传感器进行维护管理。

技术领域

本申请涉及故障诊断技术领域，特别是涉及一种传感器交叉验证故障诊断 方法、装置、计算机设备和存储介质。

背景技术

设备在使用的过程中一般都会使用相关的传感器来监测设备或者其管路的 工作状态等，即传感器在工作条件下通过对设备的温度、水位、风速或者压力 等进行测量得到测量值，工作人员再根据测量值的实时变化即可有效的了解到 设备或其管路当前的工作状态，但是传感器在使用的过程中也会发生故障，一 旦传感器测量得到的测量值发生偏差，则会对影响整个设备的正常使用。

传统的传感器故障诊断的方式主要是通过将传感器以往测量到的测量数据 与当前测量值进行对比，来确认是否发生故障，而无法根据故障情况提供相应 的传感器维护管理策略，无法有效的对传感器进行维护管理。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够有效的对传感器进行维 护管理.的传感器交叉验证故障诊断方法、装置、计算机设备和存储介质。

一种传感器交叉验证故障诊断方法，该方法包括：

获取在工作条件下的待测传感器的测量值；根据待测传感器的类型，将测 量值与预设标准值进行对比得到偏差值，其中，不同类型的待测传感器对应不 同的预设标准值；将偏差值与预设验证准则进行对比得到对比结果，并根据对 比结果获取对应的诊断策略。

上述方法，通过获取在工作条件下的待测传感器的测量值，将待测传感器 的测量值与预设标准值进行对比得到偏差值，然后再将偏差值与预设验证准则 进行对比，实现对待测传感器进行交叉验证，最后通过比对结果来获取对应的 诊断策略，使得工作人员可以更加方便快捷的通过对应的诊断策略来对传感器 进行维护管理。

在其中一个实施例中，获取在工作条件下的待测传感器的测量值，包括：

根据预设采样周期，获取在工作条件下的待测传感器采集的物理量；

将物理量进行模数转换得到待测传感器的测量值。

在其中一个实施例中，待测传感器的类型包括非冗余传感器和冗余传感器， 预设标准值包括参考均值和冗余均值，根据待测传感器的类型，将测量值与预 设标准值进行对比得到偏差值，包括：

当待测传感器为非冗余传感器时，将测量值与参考均值进行对比得到偏差 值；

当待测传感器为冗余传感器时，将测量值与冗余均值进行对比得到偏差值。

在其中一个实施例中，预设验证准则包括降级诊断验证准则，诊断策略包 括降级策略，将偏差值与预设验证准则进行对比得到对比结果，并根据对比结 果获取偏差值对应的诊断策略，包括：

将偏差值与降级诊断验证准则进行对比；

若偏差值大于降级诊断验证准则，则获取偏差值对应的降级策略，降级策 略用于对待测传感器进行偏差校验。

在其中一个实施例中，将偏差值与降级诊断验证准则进行对比之前，包括：

获取降级诊断验证准则：

C(mv)＝max{ε(t),1.414×C(c)}