[发明专利]传感器交叉验证故障诊断方法、装置、计算机设备

权利要求书

1.一种传感器交叉验证故障诊断方法，其特征在于，所述方法包括：

获取在工作条件下的待测传感器的测量值；

根据所述待测传感器的类型，将所述测量值与预设标准值进行对比得到偏差值，其中，不同类型的待测传感器对应不同的预设标准值；

将所述偏差值与预设验证准则进行对比得到对比结果，并根据所述对比结果获取所述偏差值对应的诊断策略；

所述预设验证准则包括功能诊断验证准则，所述诊断策略包括失效策略，所述将所述偏差值与预设验证准则进行对比得到对比结果，并根据所述对比结果获取所述偏差值对应的诊断策略，包括：

将所述偏差值与功能诊断验证准则进行对比；

若所述偏差值大于功能诊断验证准则，则获取所述偏差值对应的失效策略，所述失效策略用于对所述待测传感器进行精度纠正；

所述将所述偏差值与功能诊断验证准则进行对比之前，包括：

获取功能诊断验证准则：

上式中，C(fv)表示功能诊断验证准则，δ(FS)表示对所述待测传感器的功能允许误差，ε(t)表示所述待测传感器的技术精度，C(mv)表示降级准则，N表示冗余传感器数目。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取在工作条件下的待测传感器的测量值，包括：

根据预设采样周期，获取在工作条件下的所述待测传感器采集的物理量；

将所述物理量进行模数转换得到所述待测传感器的测量值。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待测传感器的类型包括非冗余传感器和冗余传感器，所述预设标准值包括参考均值和冗余均值，所述根据所述待测传感器的类型，将所述测量值与预设标准值进行对比得到偏差值，包括：

当所述待测传感器为非冗余传感器时，将所述测量值与参考均值进行对比得到偏差值；

当所述待测传感器为冗余传感器时，将所述测量值与冗余均值进行对比得到偏差值。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设验证准则还包括降级诊断验证准则，所述诊断策略还包括降级策略，所述将所述偏差值与预设验证准则进行对比得到对比结果，并根据所述对比结果获取所述偏差值对应的诊断策略，还包括：

将所述偏差值与降级诊断验证准则进行对比；

若所述偏差值大于降级诊断验证准则，则获取所述偏差值对应的降级策略，所述降级策略用于对所述待测传感器进行偏差校验。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述将所述偏差值与降级诊断验证准则进行对比之前，包括：

获取降级诊断验证准则：

C(mv)＝max{ε(t),1.414×C(c)}

上式中，C(mv)表示降级准则ε(t)表示所述待测传感器的技术精度，C(c)表示待测传感器的固有精度。

6.一种传感器交叉验证故障诊断装置，其特征在于，所述装置包括：

数据获取模块，用于获取在工作条件下的待测传感器的测量值；

数值比对模块，用于根据所述待测传感器的类型，将所述测量值与预设标准值进行对比得到偏差值，其中，不同类型的待测传感器对应不同的预设标准值；

策略获取模块，用于将所述偏差值与预设验证准则进行对比得到对比结果，并根据所述对比结果获取所述偏差值对应的诊断策略；

预设验证准则包括功能诊断验证准则，诊断策略包括失效策略，策略获取模块包括失效策略获取单元，失效策略获取单元用于将偏差值与功能诊断验证准则进行对比；若偏差值大于功能诊断验证准则，则获取偏差值对应的失效策略，失效策略用于对待测传感器进行精度纠正；功能诊断验证准则为：

上式中，C(fv)表示功能诊断验证准则，δ(FS)表示对待测传感器的功能允许误差，ε(t)表示待测传感器的技术精度，C(mv)表示降级准则，N表示冗余传感器数目。

7.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至5中任一项所述的方法的步骤。

8.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至5中任一项所述的方法的步骤。