[发明专利]基于单张定位图实现RGB的亚像素定位方法及装置

说明书

一种基于单张定位图实现RGB三种颜色对应的亚像素定位方法及装置，该定位方法包括：根据屏幕分辨率等信息，制作定位图；根据采集所述定位图中含有的画面通道Mark标记信息，通过改进Harris检测算法获取十字标记中心的粗定位；利用形态学方法计算所述标记的重心，实现亚像素定位精度；采用改进网格法对所有子像素在图片中的定位坐标进行排序，根据所述坐标利用优化三次样条插值算法获取屏幕所有画面通道所有子像素对应图像在相机图片中的亚像素级坐标。本发明通过设计定位图、单次采样定位图并实际测量获取光学系统的平移量，完成利用G像素的定位信息快速定位R、B的亚像素定位，优化了发光像素所对应的图像中心定位时间，满足显示测量领域应用需求。

技术领域

本发明属于光学成像系统以及图像处理领域，具体涉及一种面向屏幕画面检测的技术，特别是基于单张定位图实现屏幕RGB亚像素的定位方法及装置。

背景技术

主动发光型显示屏(如OLED、miniLED及uLED)的生产工艺复杂，屏幕缺陷的出现是无法避免的，为了检测出这些缺陷给后续工艺提供技术支撑，有必要对缺陷进行精确的定位，而且随着检测要求的不断提高，定位需要精确到不同颜色的亚像素。亚像素定位这一技术已应用于AOI领域进行缺陷的精准定位、距离测量、Demura领域进行子像素定位和Mura修复。

针对主动发光型显示屏显示屏的RGB子像素定位，传统的做法是以棋盘格或者点阵图为定位特征图，分别制作出R/G/B三张定位图，而后分别导入屏体显示，经相机取像后再基于取像数据分别对R/G/B子像素进行定位，此方法需要切换和拍摄三张图片，同时也要进行三次定位计算，这无疑增加了整个检测系统定位过程的时间，系统检测时间减少对整个工厂而言是产量呈现几何倍增。因此，有必要研究出一种新的定位方法来减少定位时间，从而缩短整个检测系统流程的时长，以适应现在高标准的工业应用技术的要求。

发明内容

针对现有技术的缺陷和改进需求，本发明提供了一种基于单张定位图实现RGB亚像素同时定位的方法及装置，包括：根据OLED屏幕分辨率等信息，制作定位图；根据采集所述定位图中含有的画面通道Mark标记信息，通过改进Harris检测算法获取十字标记中心的粗定位；利用形态学方法计算所述标记的重心，实现亚像素定位精度；采用改进网格法对所有子像素在图片中的定位坐标进行排序，根据所述坐标利用优化三次样条插值算法获取OLED屏幕画面通道所有子像素对应图像在相机图片中的亚像素级坐标。

为实现上述目的，按照本发明的第一方面，提供了一种基于单张定位图实现RGB亚像素同时定位的方法，具体包括：

设计得到定位图，在三色画面R画面、G画面、B画面中选择任一画面作为定位图基准画面。

获取相机成像原图，采集所述定位图中含有的画面通道Mark点信息，通过改进Harris检测算法获取Mark点粗定位坐标，利用形态学计算所述Mark点重心，得到画面通道亚像素特征点定位坐标；

为了避免获取的特征点定位坐标不会因缺失像素点出现坐标错乱的问题，利用改进网格法对所述亚像素特征点定位坐标进行排序，然后利用三次样条插值算法获取OLED屏幕画面通道所有像素的亚像素级坐标；

通过画面通道所有像素点坐标，根据R、G、B三者之间两两的屏幕坐标系关系计算出另外两个点通道所有像素点坐标。

优选的，在所述基准画面中同时设计了另外两个画面点，作为所述两画面点的定位基准点。

进一步的，所述定位图基准画面是G画面，所述另外两个画面点分别为R点和B点。

优选的，所述画面通道MARK点类型设计为矩形、单点或十字点。

优选的，所述R、G、B三者之间两两的屏幕坐标系关系分别为R与G坐标系关系，B与G坐标系关系，表示为：

R＝G+Δ′GR

B＝G+Δ'GB