[发明专利]一种斜井各向异性地层阵列侧向测井资料快速处理方法

说明书

本发明公开了一种斜井各向异性地层阵列侧向测井资料快速处理方法。本发明基于三维有限元正演算法建立正演模型，分析阵列侧向测井响应对斜井各向异性地层参数的敏感性，构建阵列侧向测井响应数据库，校正实测曲线并分层；根据区块地层信息选择对应数据库，结合敏感性分析建立反演初值选取图版，快速确定各参数初值，建立反演模型，初始化后模拟阵列侧向测井反演曲线，计算其与校正后实测曲线间的二范数并判断是否满足精度要求，若满足，则确定最优斜井各向异性地层参数，若不满足，则根据储层先验信息约束反演模型，采用正则化Levenberg‑Marquardt算法迭代更新地层参数直至满足精度要求，确定最优斜井各向异性地层参数。本发明为复杂储层的精细评价奠定了基础。

技术领域

本发明涉及石油勘探开发领域，具体涉及一种斜井各向异性地层阵列侧向测井资料快速处理方法。

背景技术

在斜井钻井过程中，阵列侧向测井因其聚焦能力强、纵向分辨率高，且能够提供多条具有不同探测深度的曲线，极大的丰富了井下地层信息，被广泛应用于油气藏评价。但是，阵列侧向测井受钻井液侵入、地层倾角和各向异性等因素的影响，不同探测深度的视电阻率曲线分离严重，导致视电阻率值无法反映地层真实电阻率，因此准确提取地层真实电阻率已成为储层精细评价需要解决的关键问题之一。

截至目前，针对各向异性地层阵列侧向测井资料的快速处理主要存在以下三个问题：1)地层模型复杂，正演难度大；2)反演参数类型多样，雅可比矩阵计算量大；3)反演初值选取困难，结果易陷于局部极小值。

因此，需要提出一种斜井各向异性地层阵列侧向测井资料快速处理方法，提高各向异性地层阵列侧向测井资料实际处理过程中的速度和精度，为复杂储层的精细评价提供准确的电阻率信息。

发明内容

本发明旨在解决斜井各向异性地层反演参数众多、初值选取困难、反演算法收敛速度慢的问题，提供了一种斜井各向异性地层阵列侧向测井资料快速处理方法。

本发明具体采用如下技术方案：

一种斜井各向异性地层阵列侧向测井资料快速处理方法，具体包括以下步骤：

步骤1，基于Visual Studio软件平台，建立斜井各向异性地层正演模型；定义地层倾角θ、侵入深度Di、原状地层水平电阻率R_th、侵入带水平电阻率R_xoh和各向异性系数λ为斜井各向异性地层参数，通过设置斜井各向异性地层正演模型中的斜井各向异性地层参数和井眼环境参数，基于三维有限元正演算法，利用斜井各向异性地层正演模型进行正演模拟，得到阵列侧向测井正演曲线；根据阵列侧向测井正演曲线，计算曲线分离因子SF，分析阵列侧向测井响应对各斜井各向异性地层参数的敏感性；

步骤2，基于步骤1中建立的斜井各向异性地层正演模型，保持井眼环境参数不变，依次改变地层倾角θ、侵入深度D_i、原状地层水平电阻率R_th、原状地层水平电阻率与侵入带水平电阻率的比值R_th/R_xoh和各向异性系数λ的取值，模拟得到不同斜井各向异性地层参数条件下的阵列侧向测井响应，构建阵列侧向测井响应数据库，并将阵列侧向测井响应数据库进一步细分为高侵数据库、低侵数据库和未侵入数据库；

步骤3，利用测井资料处理软件CIFLog对实测阵列侧向测井曲线进行井眼环境校正，得到校正后的阵列侧向测井曲线，并根据曲线拐点对校正后的阵列侧向测井曲线进行分层；

步骤4，获取区块地层信息，判断地层侵入类型，选择与地层侵入类型相匹配的阵列侧向测井响应数据库；

步骤5，结合步骤1中斜井各向异性地层参数的敏感性分析和步骤4中所匹配的阵列侧向测井响应数据库，针对斜井各向异性地层参数，建立反演初值选取图版，确定各斜井各向异性地层参数的反演初值；