[发明专利]一种斜井各向异性地层阵列侧向测井资料快速处理方法

权利要求书

1.一种斜井各向异性地层阵列侧向测井资料快速处理方法，其特征在于，具体包括以下步骤：

步骤1，基于Visual Studio软件平台，建立斜井各向异性地层正演模型；定义地层倾角θ、侵入深度Di、原状地层水平电阻率R_th、侵入带水平电阻率R_xoh和各向异性系数λ为斜井各向异性地层参数，通过设置斜井各向异性地层正演模型中的斜井各向异性地层参数和井眼环境参数，基于三维有限元正演算法，利用斜井各向异性地层正演模型进行正演模拟，得到阵列侧向测井正演曲线；根据阵列侧向测井正演曲线，计算曲线分离因子SF，分析阵列侧向测井响应对各斜井各向异性地层参数的敏感性；

步骤2，基于步骤1中建立的斜井各向异性地层正演模型，保持井眼环境参数不变，依次改变地层倾角θ、侵入深度D_i、原状地层水平电阻率R_th、原状地层水平电阻率与侵入带水平电阻率的比值R_th/R_xoh和各向异性系数λ的取值，模拟得到不同斜井各向异性地层参数条件下的阵列侧向测井响应，构建阵列侧向测井响应数据库，并将阵列侧向测井响应数据库进一步细分为高侵数据库、低侵数据库和未侵入数据库；

步骤3，利用测井资料处理软件CIFLog对实测阵列侧向测井曲线进行井眼环境校正，得到校正后的阵列侧向测井曲线，并根据曲线拐点对校正后的阵列侧向测井曲线进行分层；

步骤4，获取区块地层信息，判断地层侵入类型，选择与地层侵入类型相匹配的阵列侧向测井响应数据库；

步骤5，结合步骤1中斜井各向异性地层参数的敏感性分析和步骤4中所匹配的阵列侧向测井响应数据库，针对斜井各向异性地层参数，建立反演初值选取图版，确定各斜井各向异性地层参数的反演初值；

步骤6：基于步骤1建立的斜井各向异性地层正演模型，建立斜井各向异性地层反演模型，结合步骤5中获取的各斜井各向异性地层参数的反演初值，对斜井各向异性地层反演模型进行初始化；

步骤7，将步骤3中校正后的阵列侧向测井曲线代入步骤5初始化后的斜井各向异性地层反演模型中进行反演，模拟得到阵列侧向测井反演曲线；根据校正后的阵列侧向测井曲线和反演模拟得到的阵列侧向测井反演曲线，计算校正后的阵列侧向测井曲线视电阻率值与反演阵列侧向测井视电阻率值的二范数；判断该二范数是否满足小于10^-6的精度要求，若满足，则确定各斜井各向异性地层参数的反演初值为最优斜井各向异性地层参数，执行步骤10，若不满足，则执行步骤8；

步骤8，根据储层先验信息，确定斜井各向异性地层反演模型中的斜井各向异性地层参数的取值范围，对斜井各向异性地层反演模型施加约束；

步骤9，基于正则化Levenberg-Marquardt算法对斜井各向异性地层反演模型中的斜井各向异性地层参数进行迭代更新，确定最优斜井各向异性地层参数；

步骤10，输出确定的最优斜井各向异性地层参数。

2.如权利要求1所述的一种斜井各向异性地层阵列侧向测井资料快速处理方法，其特征在于，所述步骤1中，阵列侧向测井响应对各斜井各向异性地层参数的敏感性分析过程如下：

将阵列侧向测井正演曲线按照探测深度由浅到深的顺序依次命名为RLA1、RLA2、RLA3、RLA4和RLA5，根据阵列侧向测井正演曲线，计算曲线分离因子SF，公式如下所示：

式中，i表示阵列侧向测井正演曲线编号，i的取值范围为2～5；R_RLAi表示阵列侧向测井正演曲线RLAi的视电阻率值，单位为Ω·m；

改变斜井各向异性地层参数中各参数的大小，模拟得到不同斜井各向异性地层参数条件下的阵列侧向测井正演曲线，分析各斜井各向异性地层参数对曲线分离因子SF的影响，确定阵列侧向测井响应对各斜井各向异性地层参数的敏感性。