[发明专利]检测支撑装置及缺陷检测设备

说明书

本发明提供了一种检测支撑装置及缺陷检测设备，涉及图像检测设备技术领域，本发明实施例提供的检测支撑装置包括背光源、支撑组件和透明载具，所述支撑组件用于将所述透明载具支撑于所述背光源的出光侧，所述透明载具用于承载待测产品；所述支撑组件包括间隔设置的第一支撑结构和第二支撑结构，且所述第一支撑结构和第二支撑结构之间的距离可调，以使所述支撑组件适配不同宽度的透明载具。

技术领域

本发明涉及图像检测设备技术领域，尤其是涉及一种检测支撑装置及缺陷检测设备。

背景技术

随着技术的进步，电子行业迅速发展，包括柔性电路板(FPC)排线基板在内的各种元器件的需求越来越多，FPC排线既要满足一定的指标要求，还要满足产品质量要求，由于体积较小，要求每个排线细节都要一一检查(包括排线内多个部位)，在如此多限制因素下，获得高质量FPC排线要求很高。

现有技术中，可以通过图像采集设备的方式对FPC排线进行检测，用几个支架将透明玻璃片支撑在光源之上，然后将单个检测产品放置在玻璃片上进行检测，该方法操作繁琐而且使用困难，需要装不同的支架来对应不同的产品，多种支架导致检测成本提高，且不方便收纳。

发明内容

本发明的目的在于提供一种检测支撑装置及缺陷检测设备，以缓解现有的载盘结构固定，检测效率低的技术问题。

第一方面，本发明实施例提供的一种检测支撑装置，所述检测支撑装置包括：背光源、支撑组件和透明载具，所述支撑组件用于将所述透明载具支撑于所述背光源的出光侧，所述透明载具用于承载待测产品；

所述支撑组件包括间隔设置的第一支撑结构和第二支撑结构，且所述第一支撑结构和第二支撑结构之间的距离可调，以使所述支撑组件适配不同宽度的透明载具。

进一步的，所述检测支撑装置包括基座，所述背光源和所述支撑组件安装在所述基座上；

且所述第一支撑结构与所述基座滑动连接，和/或，所述第二支撑结构与所述基座滑动连接。

进一步的，所述第一支撑结构相对于所述基座固定；所述基座上设置有滑槽，所述第二支撑结构与所述滑槽滑动连接，所述滑槽的延伸方向与所述第一支撑结构朝向第二支撑结构的方向相同。

进一步的，所述滑槽的数量为两条，所述第二支撑结构的两端分别一一对应地滑动连接在两条滑槽内。

进一步的，所述第二支撑结构上设置有锁紧螺纹件，所述锁紧螺纹件锁紧时，所述第二支撑结构与所述基座固定。

进一步的，所述第一支撑结构朝向所述第二支撑结构的面上设置有向所述第二支撑结构一侧凸出的第一凸条，所述第一凸条与所述第一支撑结构朝向所述第二支撑结构的面垂直；

所述第二支撑结构朝向所述第一支撑结构的面上设置有向所述第一支撑结构一侧凸出的第二凸条，所述第二凸条与所述第二支撑结构朝向所述第一支撑结构的面垂直。

第二方面，本发明实施例提供的一种缺陷检测设备，所述缺陷检测设备包括上述的检测支撑装置。

进一步的，所述缺陷检测设备包括控制器和图像采集装置，所述检测支撑装置位于所述图像采集装置的下方，所述图像采集装置用于对样品的检测区域进行拍照，从而获得检测图像，所述控制器用于将检测图像与预设图像进行比较，并判断样品是否具有缺陷。

进一步的，所述图像采集装置和检测支撑装置能够分别在第一方向、第二方向和第三方向上产生相对运动，且第一方向、第二方向和第三方向彼此垂直。

进一步的，所述缺陷检测设备包括第一移动平台，所述图像采集装置与所述第一移动平台连接，所述第一移动平台用于带动所述图像采集装置沿第一方向和第三方向运动；