[发明专利]口罩外观缺陷检测系统、方法、装置以及存储介质在审
| 申请号: | 202010659677.1 | 申请日: | 2020-07-08 |
| 公开(公告)号: | CN111768404A | 公开(公告)日: | 2020-10-13 |
| 发明(设计)人: | 钟宗余;赵正阳 | 申请(专利权)人: | 北京滴普科技有限公司 |
| 主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08;G01N21/88 |
| 代理公司: | 北京万思博知识产权代理有限公司 11694 | 代理人: | 刘冀 |
| 地址: | 100080 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 口罩 外观 缺陷 检测 系统 方法 装置 以及 存储 介质 | ||
1.一种口罩外观缺陷检测系统,其特征在于,包括:图像处理服务器、用于采集待检测外观缺陷的口罩的口罩图像的图像采集装置,并且所述图像采集装置与所述图像处理服务器连接,其中所述图像处理服务器配置用于执行以下操作:
从所述图像采集装置接收所述口罩图像;
根据所述口罩图像,判定所述口罩是否存在外观缺陷;
在判定所述口罩存在外观缺陷的情况下,利用预先训练的外观缺陷检测模型对所述口罩图像进行检测,确定所述外观缺陷在所述口罩图像中的缺陷位置信息;并且
通过以下操作对所述外观缺陷检测模型进行优化:
利用预设的CGAN模型和所述图像采集装置采集到的存在外观缺陷的口罩缺陷图像,生成多个样本缺陷图像;以及
利用所述多个样本缺陷图像,重新训练所述外观缺陷检测模型。
2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,利用预先训练的外观缺陷检测模型对所述口罩图像进行检测,确定所述外观缺陷在所述口罩图像中的缺陷位置信息的操作,包括:
利用所述外观缺陷检测模型中的特征提取模型,提取所述口罩图像的缺陷特征图像;
利用所述外观缺陷检测模型中的候选区域生成模型,基于所述缺陷特征图像,生成包含所述外观缺陷的多个候选图像区域;
利用所述外观缺陷检测模型中的分类定位模型,基于所述多个候选图像区域,确定所述外观缺陷在所述口罩图像中的缺陷位置信息。
3.根据权利要求2所述的系统,其特征在于,利用所述外观缺陷检测模型中的分类定位模型,基于所述多个候选图像区域,确定所述外观缺陷在所述口罩图像中的缺陷位置信息的操作之前,包括:
将所述多个候选图像区域输入所述外观缺陷检测模型中的池化层,输出统一尺寸的多个候选图像区域;
将所述统一尺寸的多个候选图像区域输入所述外观缺陷检测模型中的第一全连接层,输出多个候选区域向量;以及
将所述统一尺寸的多个候选图像区域输入所述外观缺陷检测模型中的第二全连接层,输出多个候选图像区域的调整因子。
4.根据权利要求3所述的系统,其特征在于,利用所述外观缺陷检测模型中的分类定位模型,基于所述多个候选图像区域,确定所述外观缺陷在所述口罩图像中的缺陷位置信息的操作,包括:
将所述多个候选区域向量输入所述分类定位模型中的分类模型,输出所述多个候选图像区域属于预设类别的概率值;
利用所述分类定位模型中的回归模型,基于所述统一尺寸的多个候选图像区域和所述调整因子,确定所述口罩图像中的多个图像区域,其中所述调整因子用于指示所述多个候选图像区域和所述多个图像区域之间的映射关系;
利用层次聚类算法和非极大值抑制算法,基于所述多个候选图像区域属于预设类别的概率值,从所述多个图像区域中确定目标图像区域;以及
将所述目标图像区域在所述口罩图像中的位置信息确定为所述外观缺陷在所述口罩图像中的缺陷位置信息。
5.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,利用预设的CGAN模型和所述图像采集装置采集到的存在外观缺陷的口罩缺陷图像,生成多个样本缺陷图像的操作,包括:利用所述CGAN模型中的生成模型,基于所述口罩缺陷图像,生成所述多个样本缺陷图像。
6.根据权利要求5所述的系统,其特征在于,还包括:
将所述多个样本缺陷图像和真实缺陷图像作为输入图像输入所述CGAN模型中的判别模型,输出每一所述输入图像属于真实缺陷图像的概率值;以及
根据所输出的每一所述输入图像属于真实缺陷图像的概率值,对所述生成模型进行优化。
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