[发明专利]一种提高并稳定铜矿石入选品位的方法在审

专利信息
申请号: 202010658664.2 申请日: 2020-07-09
公开(公告)号: CN111871587A 公开(公告)日: 2020-11-03
发明(设计)人: 王彩虹;杨云虎;魏有林 申请(专利权)人: 甘肃酒钢集团宏兴钢铁股份有限公司
主分类号: B02C23/12 分类号: B02C23/12;B02C23/14;B07B15/00;B07C5/34
代理公司: 兰州智和专利代理事务所(普通合伙) 62201 代理人: 张英荷
地址: 735100 甘肃*** 国省代码: 甘肃;62
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摘要:
搜索关键词: 一种 提高 稳定 铜矿 入选 品位 方法
【说明书】:

发明提供了一种提高并稳定铜矿石入选品位的方法,是在在铜选厂原有两段一闭路破碎筛分流程的基础上,将原有单层振动筛改造为双层振动筛,并在细碎前增设光电预选设备,实现上层筛筛上物预选,预选精矿与上、下层筛中间物共同细碎,细碎与双层筛组成闭合回路,下层筛筛下物为破碎合格产品,直接进入球磨料仓。针对光电预选设备要求入选物料必须为块状的特性,对铜选厂原有破碎筛分流程加以改造,将光电预选设备科学配置于破碎筛分流程,提前抛出多混入的围岩,在提高采出铜矿石品位的同时,稳定铜选厂入选矿石品位,对铜选厂技术、经济指标提升极为有利。

技术领域

本发明属于选矿技术领域,涉及一种提高并稳定铜矿石入选品位的方法。

背景技术

矿石在开采过程中,受矿床地质成因、采矿方法以及生产操作等多因素影响,不可避免的会有围岩混入,对于低品位铜矿而言,由于矿体边界线不清,开采过程容易造成凿岩过深,围岩混入率高于设计值,采出矿石品位忽高忽低的问题,给选矿生产调整带来极大不利,严重影响选厂技术及经济指标。传统稳定入选品位的方法是配矿,但这并不能消除多混入的围岩在磨选过程的成本增加。

铜选厂破碎筛分工艺一般采用两段一闭路破碎筛分流程,如图1所示,将原矿粗碎,通过单层振动筛进行筛分,筛上物进入细碎设备完成细碎返回单层振动筛,筛下物为破碎合格产品。

发明内容

本发明的目的是提供一种提高并稳定铜矿石入选品位的方法,达到预选抛废,稳定铜选厂入选矿石品位,降低磨矿选别成本的目的。

本发明在铜选厂原有两段一闭路破碎筛分流程的基础上,将原有单层筛改造为双层筛,并在细碎前增设光电预选设备,实现上层筛筛上物预选,预选精矿与上、下层筛中间物共同细碎,细碎与双层筛组成闭合回路,下层筛筛下物为破碎合格产品,直接进入球磨料仓。针对光电预选设备要求入选物料必须为块状的特性,将光电预选设备科学配置于破碎筛分流程,提前抛出多混入的围岩,在提高采出铜矿石品位的同时,稳定铜选厂入选矿石品位,对铜选厂技术、经济指标提升极为有利。

本发明提高并稳定铜矿石入选品位的方法,是在两段一闭路破碎筛分流程的基础上,将单层振动筛改造为双层振动筛,并在细碎前增设光电预选设备,具体包括以下步骤:

(1)将原矿粗碎,通过双层振动筛筛分,分别得到筛上物、中间物和筛下物;

(2)将步骤(1)中筛上物通过光电预选设备进行预选,预选后得到预选精矿及废石,废石直接丢弃;

(3)将步骤(2)得到的预选精矿与步骤(1)上、下层振动筛中间物一同进入细碎设备完成细碎,得到细碎产物;

(4)将步骤(3) 得到的细碎产物返回步骤(1)双层振动筛组成闭合回路,下层振动筛筛下物为破碎产品,直接进入球磨料仓。

所述振动筛筛孔为方形或圆形,上层振动筛筛孔孔径为30~50mm,下层振动筛筛孔孔径为10~15mm。

所述光电预选设备为基于XRF(X射线荧光分析)辐射分选机或基于XRT(X射线衍射形貌术)的智能分选机。

本发明预选抛出废石量多少,根据抛出废石的铜品位决定,原则上抛出废石铜品位不应高于浮选尾矿铜品位。破碎筛分流程流程既能满足预选功能,又能确保不预选时流程顺畅,根据采出矿石品位及围岩混入率,决定矿石是否进行预选,采出矿石品位高、围岩混入率低,无需预选,此时只需关闭光电预选设备调节阀,无需预选的具体步骤如下:

(1)关闭光电预选设备,将原矿粗碎后,通过双层振动筛筛分,分别得到筛上物、中间物和筛下物;

(2)步骤(1)得到的筛上物通过预选设备但不预选,与步骤(1)得到中间物一同进入圆锥破碎机细碎,得到细碎产物;

(3)将细碎产物返回双层振动筛组成闭合回路,下层振动筛筛下物为破碎产品,直接进入球磨料仓。

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