[发明专利]一种PCIe设备信号参数动态校正装置和方法

说明书

本发明提供一种PCIe设备信号参数动态校正装置和方法，装置包括：误码率配置单元，用于对TLP层错误重传率的配置；测试模板单元，提供多个测试模板供选择所需的测试发送序列；加重与预加重参数调整单元，分别针对PCIe链路的输出和输入，在PCIe协议规定的标准模式下自动对eq/deq参数进行动态调整校正；回环测试单元，用于将所述测试发送序列打上回环标记后发出；数据完整性校验单元，用于进行PCIe链路端对端的循环冗余码校验和链路循环冗余码校验，以判断PCIe链路信号是否恶化；数据比较单元，用于在测试模式下，对PCIe接口发出的测试发送序列和收到的解码后数据进行比较。本发明在芯片内部实现，直接连接对端的EP设备即可进行测试，成本低，自动进行，效率高。

技术领域

本发明涉及芯片生产技术领域，特别涉及一种PCIe设备信号参数动态校正装置和方法。

背景技术

PCIe(PCIExpress)接口是一种总线接口，采用了的点对点串行连接，比起PCI以及更早期的计算机总线的共享并行架构，每个设备都有自己的专用连接，不需要向整个总线请求带宽，而且可以把数据传输率提高到一个很高的频率，达到PCI所不能提供的高带宽，因此成为目前业内主流的总线接口。

在实际使用中，现有的主机设备与PCIe接口信号并不完全适配，因此需对其进行信号兼容性测试，目前具体的做法是利用PCIe协会的测试夹具做内部的环路带宽信噪测试，即，将PCIe协会的测试夹具连接主机设备的 PCIe插槽，利用信号发生器发送TX信号，再与返回的信号做比较，得到测试结果，测试的流程仅仅针对该版型从芯片输出端到最后的插槽。然而 PCIe协会的测试夹具是一个大型的测试设备，价格昂贵，芯片或主机设备的生产厂家才会使用，对于很多用户来说，则是一笔无法承受的成本。

更有甚至某些主机设备的厂家会直接使用芯片厂家原厂设定的信号数据，芯片厂家在生产完芯片后需要为客户用于参考的评估板(安装有芯片和外接设备的PCB板)和评估板的调优参数。因此某些主机设备的厂家会直接使用芯片厂家评估板的调优参数，这在一定程度上带来了隐患，原因如下：

(1)外接设备随意性较大，只能做到兼容大多数产品，无法做到全部兼容；

(2)经过多级桥接之后，阻抗参数变化较大，对信号影响大，导致重传率升高，影响功耗和性能；

(3)随着使用环境的变化，级别适配较好的信号参数也会发生恶变。

基于此，本案在不增加板级硬件和产线工位的情况下，直接在芯片内部实现一种PCIe设备参数的动态校正装置和方法，无需增加PCIe协会的测试夹具等采购成本，无论是厂家还是终端用户均可根据需要实进测试。

发明内容

本发明要解决的技术问题，在于提供一种PCIe设备信号参数动态校正装置和方法，在芯片内部实现，直接连接对端的EP设备即可进行测试，无需增加PCIe协会的测试夹具等采购成本，也无需增加板级硬件和产线工位。

第一方面，本发明提供了一种PCIe设备信号参数动态校正装置，其特征在于：设置于PCIe设备的芯片内部，并包括：

误码率配置单元，用于接受用户对TLP层错误重传率的配置，该TLP 层错误重传率记为误码率；

测试模板单元，提供多个测试模板供用户选择所需的测试模板，每个测试模板中保存有一测试发送序列；

加重与预加重参数调整单元，分别针对PCIe链路的输出和输入，在PCIe 协议规定的标准模式下自动对eq/deq参数进行动态调整校正；

回环测试单元，用于在测试状态下将所述测试发送序列打上回环标记后发出；

数据完整性校验单元，用于进行PCIe链路端对端的循环冗余码校验和链路循环冗余码校验，当循环冗余码校验和链路循环冗余码出现不完整现象时，则判断PCIe链路信号恶化；