[发明专利]一种PCIe设备信号参数动态校正装置和方法

权利要求书

1.一种PCIe设备信号参数动态校正装置，其特征在于：设置于PCIe设备的芯片内部，并包括：

误码率配置单元，用于接受用户对TLP层错误重传率的配置，该TLP层错误重传率记为误码率；

测试模板单元，提供多个测试模板供用户选择所需的测试模板，每个测试模板中保存有一测试发送序列；

加重与预加重参数调整单元，分别针对PCIe链路的输出和输入，在PCIe协议规定的标准模式下自动对eq/deq参数进行动态调整校正；

回环测试单元，用于在测试状态下将所述测试发送序列打上回环标记后发出；

数据完整性校验单元，用于进行PCIe链路端对端的循环冗余码校验和链路循环冗余码校验，当PCIe链路端对端的循环冗余码校验和链路循环冗余码校验出现不完整现象时，则判断PCIe链路信号恶化；

误码率统计单元，用于在PCIe链路信号恶化的情况下统计误码率，当误码率达到所述误码率配置单元的配置值时，自动触发所述加重与预加重参数调整单元进入动态调整校正功能，并使所述回环测试单元进入测试状态；

数据比较单元，用于在测试状态下，将所述回环测试单元发出的所述测试发送序列转给对端EP设备，并接收由对端EP设备返回的解码后数据，对所述测试发送序列和解码后数据进行比较，比较结果如果一致表明此时所述eq/deq参数为适合参数，结束流程；若不一致则触发加重与预加重参数调整单元自动进行动态调整eq/deq参数，然后触发回环测试单元，使得对端EP设备进入回环测试模式。

2.根据权利要求1所述的一种PCIe设备信号参数动态校正装置，其特征在于：所述加重与预加重参数调整单元进行自动调整eq/deq参数时，从协议推荐数值往下和往上不断的增减，直到探测到信号恶变的上下两个边界。

3.根据权利要求1所述的一种PCIe设备信号参数动态校正装置，其特征在于：所述误码率统计单元对单位时间内的误码率进行统计包括下述两种方式：

第一种，如果对端EP设备支持AER，就直接利用查询双方AER信息来进行统计；

第二种，如果对端EP设备不支持AER，以主机端接口的单位时间内的重传中断数量密度来统计。

4.根据权利要求3所述的一种PCIe设备信号参数动态校正装置，其特征在于：还包括：

模式选择单元，供用户设定测试模式，所述测试模式包括下述两个方面：

（1）是否绝对需要进行测试，若用户配置是，则在配置完成后，让PCIe链路连接对端EP设备正常使用，通过数据完整性校验单元进行端对端的循环冗余码校验和链路循环冗余码校验，若PCIe链路端对端的循环冗余码校验和链路循环冗余码校验出现不完整现象时，则启动所述误码率统计单元对单位时间内的误码率进行统计，若误码率达到误码率配置单元的配置值时，自动触发PCIe设备信号参数的动态校正功能，以对PCIe设备信号参数动态校正，若用户配置否，则结束流程；

（2）测试是否需要细分到不同lane粒度，若用户配置是，并配置lane的数量为n，n≥2，则分别针对每一个lane进行PCIe设备信号参数动态校正，直到n个lane都校正完毕。