[发明专利]采样针下针深度自动设置方法及样本分析仪

权利要求书

1.一种采样针下针深度自动设置方法，用于样本分析仪的采样针在对样本容器进行采样之前自动设置其下针的深度，其特征在于，包括如下步骤：

配置所述采样针与所述样本容器的相对位置，使得所述采样针沿下针方向正对所述样本容器的开口；

控制所述采样针从初始位置向所述样本容器的底部下移，并控制用于驱动所述采样针下移的驱动电机以第一电流运行以驱动采样针抵触所述样本容器的底部，所述第一电流小于所述驱动电机在采样时的工作电流；

测量所述采样针从所述初始位置到所述采样针抵触所述样本容器底部之间的位移距离；

基于测量得到的所述位移距离设定所述采样针在采样时的下针深度。

2.如权利要求1所述的采样针下针深度自动设置方法，其特征在于，所述步骤：测量所述采样针从初始位置到所述采样针抵触所述样本容器底部之间的位移距离，包括：

控制所述驱动电机驱动所述采样针从抵触所述样本容器的底部至返回到所述初始位置；

测量所述采样针从抵触所述样本容器的底部至返回到所述初始位置处的运动距离以作为所述位移距离。

3.如权利要求2所述的采样针下针深度自动设置方法，其特征在于，所述驱动电机内设有编码器，所述步骤：测量所述采样针从抵触所述样本容器的底部至所述初始位置处的运动距离以作为所述位移距离，包括：

通过所述编码器测量所述驱动电机驱动采样针从抵触所述样本容器的底部至返回到所述初始位置处的行走的步长以作为所述位移距离。

4.如权利要求2所述的采样针下针深度自动设置方法，其特征在于，所述样本分析仪还包括用于识别所述采样针的第一传感器，所述第一传感器对应与所述初始位置间隔第一距离的参考位置设置，所述步骤：测量所述采样针从所述初始位置到所述采样针抵触所述样本容器底部之间的位移距离，具体包括：

控制所述驱动电机驱动所述采样针从抵触所述样本容器的底部至返回到所述初始位置；

当所述第一传感器检测到所述采样针到达所述参考位置时，测量所述采样针从抵触所述样本容器的底部至返回到所述参考位置处的运动距离；

所述运动距离与所述第一距离运算得到所述位移距离。

5.如权利要求4所述的采样针下针深度自动设置方法，其特征在于，所述步骤：控制所述驱动电机驱动所述采样针从抵触所述样本容器的底部至返回到所述初始位置，还包括：

预设第二距离，所述第二距离大于由采样针抵触样本容器底部到采样针返回至参考位置时的运动距离；

控制所述驱动电机驱动所述采样针从抵触所述样本容器的底部至返回到所述初始位置；

若所述驱动电机运行所述第二距离后，所述第一传感器未被触发，则发出所述驱动电机发生堵转的警示。

6.如权利要求1所述的采样针下针深度自动设置方法，其特征在于，所述驱动电机内设有编码器，或所述样本分析仪设有用于检测所述采样针移位的位移传感器，所述步骤：测量所述采样针从所述初始位置到所述采样针抵触所述样本容器底部之间的位移距离，包括：

控制所述驱动电机驱动所述采样针从所述初始位置下移至抵触所述样本容器的底部；

通过所述编码器测量所述驱动电机驱动所述采样针从所述初始位置下移至抵触所述样本容器的底部的行走的步长以作为所述位移距离，或

通过所述位移传感器来测量所述采样针从所述初始位置下移至抵触所述样本容器的底部的运动距离以作为所述位移距离。

7.如权利要求6所述的采样针下针深度自动设置方法，其特征在于，所述样本分析仪设有用于监测是否发生堵转的第二传感器，所述步骤：测量所述采样针从所述初始位置到所述采样针抵触所述样本容器底部之间的位移距离，还包括：

通过所述第二传感器实时监测所述驱动电机是否发生堵转，以确定所述采样针在下移过程中是否抵触到所述样本容器的底部。