[发明专利]一种毫米波雷达角度自动校准系统及方法

权利要求书

1.一种毫米波雷达角度自动校准系统，其特征在于，包括：控制中心，分别与目标模拟单元和定位器控制器连接；雷达目标模拟器，包括目标模拟单元、射频模块、转台及屏蔽环境；其中，所述目标模拟单元根据所述控制中心预设的雷达模拟目标值，控制射频模块执行射频信号的发送或接收，所述定位器控制器通过转台控制待测雷达扫描范围，所述转台与待测雷达间设置吸波材料；所述待测雷达根据所述控制中心设置的雷达角度采样扫描步进β及采样时间，进行采样并将结果反馈至所述控制中心，所述控制中心还用于计算雷达采样实际角度值与模拟目标值的差值，生成校准表并写入待测雷达中，作为下一次雷达采样的角度补偿，直至所述差值小于预设误差值，完成校准。

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述雷达模拟目标值包括角度、距离和速度。

3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述射频模块执行射频信号的发送或接收，还包括：所述射频模块接收到来自待测雷达发射的电磁波信号，经过所述目标模拟单元模拟的目标后，产生目标反射信号并通过所述射频模块发送至待测雷达接收，并进行目标信号的处理。

4.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述扫描范围大于所述雷达模拟目标值。

5.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述待测雷达与所述控制中心为有线连接。

6.一种毫米波雷达角度自动校准方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1：启动雷达目标模拟器，所述待测雷达进入工作状态；

S2：设置雷达模拟目标值，通过射频模块执行射频信号的发送或接收；

S3：根据雷达覆盖范围需求及所述雷达模拟目标值设置雷达扫描范围，结合雷达角度分辨及精度要求设置雷达角度采样扫描步进β及采样时间，进行雷达采样并将结果发送至所述控制中心，计算雷达采样实际角度值与模拟目标值的差值，生成校准表并写入雷达，作为下一次雷达采样的角度补偿，直至所述差值小于预设误差值，完成校准。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述雷达模拟目标值包括角度、距离和速度。

8.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述S2还包括：所述射频模块接收到来自待测雷达发射的电磁波信号，经过所述目标模拟单元模拟的目标后，产生目标反射信号并通过所述射频模块发送至待测雷达接收，并进行目标信号的处理。

9.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述校准表还包括：以所述雷达角度采样扫描步进ββ为间隔长度，计算每一间隔采样的实际角度值与模拟目标值的差值：；得校准表为，其中，n表示以所述间隔长度将所述雷达扫描范围划分为n个样本，为实际角度值，为雷达模拟目标值。

10.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述下一次雷达采样的角度补偿还包括：将所述校准表分别对应补偿至所述采样扫描步进β下的实际测试角度值中，并重新执行下一次雷达采样。