[发明专利]晶片检查装置

权利要求书

1.一种晶片检查装置，其对晶片的正面和晶片的外周进行拍摄而进行检查，其中，

该晶片检查装置具有：

宏观照相机，其对晶片的正面进行拍摄；

微观照相机，其对晶片的外周进行拍摄，与该宏观照相机相比，该微观照相机的拍摄范围窄而倍率高；

保持工作台，其具有保持晶片的保持面；

电动机，其使该保持工作台以该保持面的中心为轴而旋转；

角度识别部，其对借助该电动机而旋转的该保持工作台的旋转角度进行识别；

支承部，其支承该宏观照相机和该微观照相机；

X轴移动机构，其使该支承部在与该保持面平行的X轴方向上移动；以及

控制单元，

该控制单元包含：

中心计算部，其将该宏观照相机移动到能够对晶片的外周进行拍摄的位置，根据由该宏观照相机拍摄的图像，识别晶片的外周上的至少3点的坐标，根据该3点的坐标计算晶片的中心坐标；以及

距离计算部，其取得中心间距离与该保持工作台的旋转角度之间的关系，使该保持工作台旋转，计算与该角度识别部所识别的该保持工作台的旋转角度对应的该中心间距离，其中，所述中心间距离是预先识别的该保持面的中心坐标与该中心计算部所计算的晶片的中心坐标在X轴方向上的距离，

根据该微观照相机的拍摄范围中心与该保持面的中心在X轴方向上的距离以及该距离计算部所计算的该中心间距离，通过该X轴移动机构使该微观照相机在X轴方向上移动，从而将该微观照相机配置在拍摄位置上，该拍摄位置是用于将该微观照相机的拍摄范围配置在晶片的外周上的X轴方向上的位置，

利用该微观照相机对晶片的外周进行拍摄，检查晶片的外周的状态。