[发明专利]芯片测试方法、测试设备和测试系统

说明书

本公开涉及芯片的测试方法、测试设备和测试系统。该测试方法包括：测量在每个核被提供电源电压但不提供数据和时钟的状态下的第一电流；测量在每个核都被提供电源电压但不提供数据，至少第一部分的核还被提供具有第一频率的时钟的状态下的第二电流；测量在每个核都被提供电源电压但不提供数据，至少第一部分的核还被提供具有第二频率的时钟的状态下的第三电流；测量在每个核都被提供电源电压，至少第一部分的核还被提供具有第二频率的时钟但不提供数据，并且第二部分的核还被提供数据和具有第二频率的时钟的状态下的第四电流；以及至少根据上述步骤的测量结果确定在多个核都被提供电源电压、数据和具有第三频率的时钟的情况下芯片的估算电流。

技术领域

本公开涉及芯片测试方法、测试设备和测试系统。

背景技术

目前通常采用基于测试向量自动产生(Automatic Test Pattern Generation：ATPG)生成的测试向量(Test Pattern)对已经封装好的芯片进行测试(通过/失败测试)，并计算良率。用于虚拟货币的“矿机”芯片往往也采用这种基于测试向量的终测方法。

但是，本申请的发明人在实践中发现ATPG测试有其限制，特别是对于矿机芯片。目前，矿机芯片中往往集成有多个功能相同的核(core)。ATPG测试不足以对矿机芯片性能进行全面测试。在实践中，不同的矿机在运行中表现出的性能之间的差异依然很大，从而影响矿机良率。也造成了无法准确预期良率，影响运营销售等等。

因此，需要一种新的芯片测试方法、测试设备和测试系统。

发明内容

根据本公开的实施例，提供了以下项目。

项目1、一种对一个或多个芯片进行测试的方法，

所述一个或多个芯片中的每一个包括多个核，每个核能够被提供以电源电压、数据和时钟，

所述方法包括：

对于每一个芯片，执行以下步骤：

(A)测量在第一状态下的第一电流(I_leakage(V))，在所述第一状态，所述多个核中的每个核被提供电源电压，但不提供数据和时钟；

(B)测量在第二状态下的第二电流(I_{stdby_osc_partial})，在所述第二状态，所述多个核中的每个核都被提供电源电压但不提供数据，所述多个核中的至少第一部分的核还被提供具有第一频率(F_osc)的时钟；

(C)测量在第三状态下的第三电流(I_{idle_partial})，在所述第三状态，所述多个核中的每个核都被提供电源电压但不提供数据，所述多个核中的所述至少第一部分的核还被提供具有第二频率的(F_idle)时钟，所述第二频率高于所述第一频率；

(D)测量在第四状态下的第四电流(I_{core_partial})，在所述第四状态，所述多个核中的每个核都被提供电源电压，所述至少第一部分的核还被提供具有第二频率的时钟但不提供数据，所述多个核中的第二部分的核还被提供数据和具有第二频率的时钟，其中所述第二部分是所述至少第一部分的至少一部分；以及

(E)至少根据上述步骤(A)至(D)的测量结果确定在所述多个核都被提供电源电压、数据和具有第三频率的时钟的情况下芯片的估算电流，其中所述第三频率高于所述第二频率。

项目2、根据项目1所述的测试方法，其中，根据测量的结果确定在所述多个核都被提供电源、数据和具有第三频率的时钟的情况下芯片的估算电流包括：

根据测量的结果进行拟合，以确定在所述多个核都被提供电源、数据和具有第三频率的时钟的情况下芯片的估算电流。

项目3、根据项目1所述的测试方法，还包括：