[发明专利]芯片测试方法、测试设备和测试系统

权利要求书

1.一种对一个或多个芯片进行测试的方法，其特征在于，

所述一个或多个芯片中的每一个包括多个核，每个核能够被提供以电源电压、数据和时钟，

所述方法包括：

对于每一个芯片，执行以下步骤：

(A)测量在第一状态下的第一电流(I_leakage(V))，在所述第一状态，所述多个核中的每个核被提供电源电压，但不提供数据和时钟；

(B)测量在第二状态下的第二电流(I_{stdby_osc_partial})，在所述第二状态，所述多个核中的每个核都被提供电源电压但不提供数据，所述多个核中的至少第一部分的核还被提供具有第一频率(F_osc)的时钟；

(C)测量在第三状态下的第三电流(I_{idle_partial})，在所述第三状态，所述多个核中的每个核都被提供电源电压但不提供数据，所述多个核中的所述至少第一部分的核还被提供具有第二频率的(F_idle)时钟，所述第二频率高于所述第一频率；

(D)测量在第四状态下的第四电流(I_{core_partial})，在所述第四状态，所述多个核中的每个核都被提供电源电压，所述至少第一部分的核还被提供具有第二频率的时钟但不提供数据，所述多个核中的第二部分的核还被提供数据和具有第二频率的时钟，其中所述第二部分是所述至少第一部分的至少一部分；以及

(E)至少根据上述步骤(A)至(D)的测量结果确定在所述多个核都被提供电源电压、数据和具有第三频率的时钟的情况下芯片的估算电流，其中所述第三频率高于所述第二频率。

2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，其中，根据测量的结果确定在所述多个核都被提供电源、数据和具有第三频率的时钟的情况下芯片的估算电流包括：

根据测量的结果进行拟合，以确定在所述多个核都被提供电源、数据和具有第三频率的时钟的情况下芯片的估算电流。

3.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，还包括：

(F)基于各芯片的分类，确定其工作参数。

4.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，还包括：

(G)在第一电源电压下执行所述步骤(A)-(E)；

(H)在不同的第二电源电压下执行所述步骤(A)-(E)；

(I)至少根据上述步骤(G)至(H)的确定结果，来确定在所述多个核都被提供不同的第三电源电压、数据和具有第三频率的时钟的情况下芯片的估算电流，其中所述第三电源电压高于所述第一和第二电源电压。

5.根据权利要求1-4中任一项所述的测试方法，其特征在于，还包括：

对于每一个芯片，

(J)根据所述估算电流计算该芯片的指标。

6.根据权利要求5所述的测试方法，其特征在于，还包括：

(K)基于所述指标，对所述一个或多个芯片进行分类。

7.根据权利要求1-4中任一项所述的测试方法，其特征在于下列中的至少一个：

所述多个核是彼此相同的；

所述多个核能够对于相同的数据执行相同的操作；

所述多个核对各自接收的数据进行的计算是基于相同的算法进行的；和/或

所述多个核对各自接收的数据进行的计算是基于相同的用于虚拟货币的算法进行的。

8.根据权利要求1-4中任一项所述的测试方法，其特征在于，

所述芯片还具有参考频率和基于参考频率的锁相环，

其中，所述第一频率是所述参考频率，

所述第二频率是所述参考频率的倍频，

所述第三频率是通过锁相环输出的频率。

9.根据权利要求1-4中任一项所述的测试方法，其特征在于，所述一个或多个芯片包括多个芯片，所述多个芯片是串联供电的。