[发明专利]电子产品抗冲击性能测试装置

说明书

公开了一种电子产品抗冲击性能测试装置，包括：机架，固定在基座上，所述基座上具有承受电子产品跌落时冲击力的冲击板，所述机架两侧具有轨道；电磁释放器，固定在所述机架顶部；夹具，其顶部吸附在所述电磁释放器上，两端置于所述导轨上；测速装置，用于在所述电磁释放器释放所述夹具后测量所述夹具及其上的电子产品下落速度；以及电子散斑干涉测量系统，用于获得跌落到所述冲击板上的电子产品的形变场。本公开采用电子散斑干涉技术测试电子产品受到冲击时形变场的分布，可有效明确电子产品对于外界冲击力所具有的抵御能力及失效点。

技术领域

本公开涉及一种电子产品抗冲击性能测试装置。

背景技术

大部分电子产品由于经常被使用，因此无形中增大了其碰撞与损坏的可能，为了提升电子产品的质量，应对其抗损伤能力进行强化。因此，在可靠性检测过程中，应进行产品破坏性测试，有效明确产品对于外界冲击力所具有的抵御能力及失效点，为产品外形设计，外壳、屏幕、零部件等材料的选择提供可靠的参考，从而实现产品抗冲击能力的提升。

在电子行业中，为了保证电子产品的抗冲击性能，一般要求其通过某种通用的标准测试。适用的标准有，美国实验与材料协会(American Soci-ety for Testing andMaterials,ASTM)提供的ANSI/ASTM D3332-93“使用冲击试验机测定产品脆值的实验方法”；美国国防部的军用标准MILI-STD-810F“环境考虑的测试方法标准和实验室测试”；国际电工委员会(International Electrotechnical Commission，IEC)提供的IEC68-2-27“基本环境试验规程国际标准”；电子工程设计发展联合会(Joint Electron DeviceEngineering Councial,JEDEC)提供的一系列针对手持式电子产品测试标准草案等，这些标准测试中最常用的方法包括跌落试验和冲击试验。

在电子产品抗冲击性能测试过程中，传统测量工具较难测量到产品的微小变形，因此多借助声学技术、X射线技术、莫尔干涉测量技术和光学显微镜等，来观测产品微裂纹的扩展。但是这些测量方式对机械振动的敏感度高，测量精度低，有时间滞后性，或需要对产品表面进行复杂的处理，在普通实验室条件下较难获得可靠的试验数据。

发明内容

本公开的提供一种电子产品抗冲击性能测试装置，该装置采用电子散斑干涉技术重复、连续测试电子产品受到冲击时形变场的分布。

本公开的至少一个实施例提供一种电子产品抗冲击性能测试装置，包括：

机架，固定在基座上，所述基座上具有承受电子产品跌落时冲击力的冲击板，所述机架两侧具有轨道；

电磁释放器，固定在所述机架顶部；

夹具，其顶部吸附在所述电磁释放器上，两端置于所述导轨上；

测速装置，用于在所述电磁释放器释放所述夹具后测量所述夹具及其上的电子产品下落速度；以及

电子散斑干涉测量系统，用于获得跌落到所述冲击板上的电子产品的形变场。

在一些示例中，所述电子散斑干涉测量系统包括：

激光器；

分束镜，用于将所述激光器发射的激光分成两束光；

反射镜，用于将所述两束光反射到电子产品跌落区域，在跌落区域形成散斑图；

相机，用于在电子产品跌落到所述冲击板上时拍摄散斑图；和

计算机，根据所述相机拍摄的所述散斑图得到电子产品的形变场。

在一些示例中，所述电子散斑干涉测量系统包括：

激光器；