[发明专利]电子产品抗冲击性能测试装置在审
申请号: | 202010620139.1 | 申请日: | 2020-06-30 |
公开(公告)号: | CN111721492A | 公开(公告)日: | 2020-09-29 |
发明(设计)人: | 刘胜;陈志文;冯铮;徐国粮;马坤;王立成;杨凡;刘俐 | 申请(专利权)人: | 武汉大学 |
主分类号: | G01M7/08 | 分类号: | G01M7/08;G01B11/16 |
代理公司: | 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 | 代理人: | 郑勤振 |
地址: | 430072 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电子产品 冲击 性能 测试 装置 | ||
1.一种电子产品抗冲击性能测试装置,其特征在于,包括:
机架,固定在基座上,所述基座上具有承受电子产品跌落时冲击力的冲击板,所述机架两侧具有轨道;
电磁释放器,固定在所述机架顶部;
夹具,其顶部吸附在所述电磁释放器上,两端置于所述导轨上;
测速装置,用于在所述电磁释放器释放所述夹具后测量所述夹具及其上的电子产品下落速度;以及
电子散斑干涉测量系统,用于获得跌落到所述冲击板上的电子产品的形变场。
2.根据权利要求1所述的电子产品抗冲击性能测试装置,其特征在于,所述电子散斑干涉测量系统包括:
激光器;
分束镜,用于将所述激光器发射的激光分成两束光;
反射镜,用于将所述两束光反射到电子产品跌落区域,在跌落区域形成散斑图;
相机,用于在电子产品跌落到所述冲击板上时拍摄散斑图;和
计算机,根据所述相机拍摄的所述散斑图得到电子产品的形变场。
3.根据权利要求1所述的电子产品抗冲击性能测试装置,其特征在于,所述电子散斑干涉测量系统包括:
激光器;
分光棱镜,用于将所述激光器发射的激光分成两束光,并使其中一路光打向电子产品跌落区域形成散斑图,另一路光经衰减器衰减后射向水平放置的反射镜,经过所述反射镜反射的光束沿原路返回,经所述分光棱镜射向相机;
计算机,根据所述相机拍摄的所述散斑图得到电子产品的形变场。
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