[发明专利]功率器件失效率评估方法、计算机设备以及存储介质

说明书

本申请涉及一种功率器件失效率评估方法、计算机设备以及存储介质。功率器件失效率评估方法包括：获取重离子的阈值能量；模拟沉积能量大于或者等于阈值能量的重离子入射至待测态功率器件的过程，确定功率器件的敏感区域；模拟辐射粒子入射至待测态功率器件而产生次级重离子的过程，获取辐射粒子产生的进入敏感区域的次级重离子的沉积能量；根据进入敏感区域的次级重离子的沉积能量与阈值能量的关系，获取待测态功率器件发生单粒子烧毁事件的次数；根据单粒子烧毁事件的次数，评估辐射粒子导致待测态功率器件的失效率情况。本申请可以有效降低测试成本。

技术领域

本申请涉及电子技术领域，特别是涉及一种功率器件失效率评估方法、计算机设备以及存储介质。

背景技术

辐射粒子导致的功率器件失效率现象受到广泛关注。但是，目前关注的辐射粒子多是空间带电重离子，而对通过非直接电离作用产生次级重离子的辐射粒子(如大气中子)导致的功率器件失效率关注度并不高。对该类辐射粒子导致的功率器件失效率一般采用基于辐照试验的失效率评估方法进行评估。

但是，辐射粒子引起失效率的单粒子效应为破坏性效应。因此，传统的对于通过非直接电离作用产生次级重离子的辐射粒子导致的功率器件失效率的评估方法，需要耗用大量的样品才能获得具有统计性的结果，测试成本较高。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够降低评估成本的功率器件失效率评估方法、计算机设备以及存储介质。

一种功率器件失效率评估方法，用于评估可以通过非直接电离作用产生次级重离子的辐射粒子导致功率器件失效率的情况，所述方法包括：

获取所述重离子的阈值能量，所述阈值能量为导致待测态功率器件发生单粒子烧毁所需的所述重离子的最小沉积能量，所述待测态功率器件为处于关态且在预设偏置电压下的功率器件；

模拟沉积能量大于或者等于所述阈值能量的所述重离子入射至所述待测态功率器件的过程，确定所述功率器件的敏感区域；

模拟所述辐射粒子入射至所述待测态功率器件而产生次级重离子的过程，获取所述辐射粒子产生的进入所述敏感区域的次级重离子的沉积能量；

根据进入所述敏感区域的次级重离子的沉积能量与所述阈值能量的关系，获取所述待测态功率器件发生单粒子烧毁事件的次数；

根据所述单粒子烧毁事件的次数，评估所述辐射粒子导致所述待测态功率器件的失效率情况。

在其中一个实施例中，所述获取所述重离子的阈值能量包括：

获取处于关态的所述功率器件在不同线性能量转移值的重离子的辐照下发生单粒子烧毁的最小偏置电压；

将所述重离子的线性能量转移值与所述最小偏置电压之间的关系转换为所述重离子的沉积能量与所述最小偏置电压之间的关系；

根据所述重离子的沉淀能量与所述最小偏置电压之间的关系，获取所述获取重离子的阈值能量。

在其中一个实施例中，模拟沉积能量大于或者等于所述阈值能量的所述重离子入射至所述待测态功率器件的过程，确定所述功率器件的敏感区域包括：

获取所述功率器件的器件信息；

根据所述器件信息构建第一仿真模型；

将所述第一仿真模型中的所述功率器件的仿真结构划分为若干仿真区域；

基于所述第一仿真模型仿真模拟沉积能量大于或者等于所述阈值能量的所述重离子入射至所述待测态功率器件的所述仿真区域的过程；

判断各所述仿真区域是否发生单粒子烧毁；

根据各所述仿真区域是否发生单粒子烧毁判断其是否为敏感区域。