[发明专利]功率器件的敏感区域检测方法、计算机设备及存储介质

说明书

本申请涉及一种功率器件的敏感区域检测方法、计算机设备及存储介质。功率器件的敏感区域检测方法，用于检测功率器件的单粒子烧毁敏感区域，包括：获取功率器件的器件信息；根据器件信息构建仿真模型；将仿真模型中的功率器件的仿真结构划分为多个仿真区域；基于仿真模型仿真模拟试验带电粒子入射至处于关态且在预设偏置电压下的功率器件的仿真区域的过程根据仿真模拟结果判断各仿真区域是否发生单粒子烧毁；如果仿真区域发生单粒子烧毁，则确定该仿真区域为敏感区域。本申请可以有效降低敏感区域的检测成本。

技术领域

本申请涉及电子技术领域，特别是涉及一种功率器件的敏感区域检测方法、计算机设备及存储介质。

背景技术

早在上世纪八十年代，航天应用领域就开始关注辐射粒子导致的功率器件单粒子烧毁(SEB)失效。当带电粒子(如重离子)入射到功率器件的敏感区域时，电离产生电子-空穴对。电子-空穴对在电场作用下分离并向相反方向运动，导致电子向高电位处聚集，而空穴向低电位处聚集，进而诱发功率器件发生单粒子烧毁。

传统技术通常通过辐照试验确定功率器件的单粒子烧毁敏感区域，导致敏感区域难以精确的确定。但是，辐射粒子引起失效的单粒子效应为破坏性效应。因此，传统方法需要耗用大量的样品才能获得具有统计性的结果，测试成本较高。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够降低试验成本的功率器件的敏感区域检测方法、计算机设备及存储介质。

一种功率器件的敏感区域检测方法，用于检测功率器件的单粒子烧毁敏感区域，包括：

获取所述功率器件的器件信息；

根据所述器件信息构建仿真模型；

将所述仿真模型中的所述功率器件的仿真结构划分为多个仿真区域；

基于所述仿真模型仿真模拟试验带电粒子入射至处于关态且在预设偏置电压下的功率器件的所述仿真区域的过程；

根据仿真模拟结果判断各所述仿真区域是否发生单粒子烧毁；

如果所述仿真区域发生单粒子烧毁，则确定该仿真区域为敏感区域。

在其中一个实施例中，所述将所述仿真模型中的所述功率器件的仿真结构划分为多个仿真区域包括：

将所述功率器件的长度方向作为第一方向；

将所述功率器件的仿真结构沿第一方向分进行划分而生成所述多个仿真区域。

在其中一个实施例中，所述将所述仿真模型中的所述功率器件的仿真结构划分为多个仿真区域包括：

将所述功率器件的长度方向作为第一方向，所述功率器件的厚度方向作为第二方向；

将所述功率器件的仿真结构沿第一方向以及第二方向进行划分而生成所述多个仿真区域。

在其中一个实施例中，所述多个仿真区域为2n个相同的仿真区域，n为大于1的正整数，且2n个所述仿真区域关于中心平面对称分布，所述中心平面与所述第一方向垂直；

所述基于所述仿真模型仿真模拟试验带电粒子入射至处于关态且在预设偏置电压下的功率器件的所述仿真区域的过程包括：

设置所述功率器件处于关态，且其偏置电压为在预设偏置电压；

基于所述仿真模型仿真模拟试验带电粒子入射至位于所述功率器件的中心平面一侧的n个仿真区域的过程。

在其中一个实施例中，所述基于所述仿真模型仿真模拟试验带电粒子入射至处于关态且在预设偏置电压下的功率器件的各仿真区域的过程之前还包括：

获取单粒子烧毁阈值电压与带电粒子的线性能量转移值之间的关系曲线；