[发明专利]减小非型闪存过擦除现象的方法、系统、存储介质和终端

权利要求书

1.一种减小非型闪存过擦除现象的方法，其特征在于，具体包括以下步骤：

S1：同时选中需要擦除的区域内的所有字线上的单元并对所有单元执行擦除操作；

S2：按照字线编号顺序，逐一检查擦除区域内的每根字线，判断当前检查的一根字线上的所有单元是否均擦除成功，若当前检查的一根字线上的所有单元均擦除成功则跳转至S2，若当前检查的一根字线上有单元擦除不成功则跳转至S3；

S3：对当前检查的一根字线上的单元执行再擦除操作，直至当前检查的一根字线上的所有单元擦除成功后跳转至S2。

2.根据权利要求1所述的减小非型闪存过擦除现象的方法，其特征在于，所述S3包括以下步骤：

s31：对当前检查的一根字线上的单元执行擦除操作；

s32：判断当前检查的一根字线上的所有单元是否均擦除成功，若是则跳转至S2，否则跳转至s31。

3.根据权利要求1所述的减小非型闪存过擦除现象的方法，其特征在于，所述S3之后还包括以下步骤：

S3：对当前检查的一根字线上的单元执行再擦除操作，直至当前检查的一根字线上的所有单元均擦除成功后跳转至S4；

S4：判断需要擦除的区域内的所有字线是否均已检查完毕，是则跳转至S5，否则跳转至S2；

S5：使芯片进入待机状态。

4.根据权利要求1所述的减小非型闪存过擦除现象的方法，其特征在于，执行擦除操作是对需要擦除的单元施加擦除脉冲实现。

5.根据权利要求1所述的减小非型闪存过擦除现象的方法，其特征在于，所述需要擦除的区域为扇区擦除和块擦除。

6.一种采用如权利要求1至5任一项所述的减小非型闪存过擦除现象的方法的系统，其特征在于，包括：

选中需要擦除的字线上的单元并对选中字线上的单元执行擦除操作的擦除模块（A1）；

按照字线编号顺序，逐一检查擦除区域内的每根字线，判断当前检查的一根字线上的所有单元是否均擦除成功的检查模块（A2）。

7.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，还包括：判断需要擦除的区域内的所有字线是否均已检查完毕的判断模块（A3）。

8.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，还包括：使芯片实现上电的上电模块（A4）和使芯片进入待机状态的待机模块（A5）。

9.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质中存储有计算机程序，当所述计算机程序在计算机上运行时，使得所述计算机执行权利要求1至5任一项所述的方法。

10.一种终端，其特征在于，包括处理器（B301）和存储器（B302），所述存储器（B302）中存储有计算机程序，所述处理器（B301）通过调用所述存储器（B302）中存储的所述计算机程序，用于执行权利要求1至5任一项所述的方法。