[发明专利]铌化合物和形成薄膜的方法在审
申请号: | 202010585301.0 | 申请日: | 2020-06-23 |
公开(公告)号: | CN112341489A | 公开(公告)日: | 2021-02-09 |
发明(设计)人: | 李沼姈;柳承旻;朴圭熙;林载顺;曺仑廷;斋藤昭夫;布施若菜;青木雄太郎;小出幸宜 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社;株式会社ADEKA |
主分类号: | C07F9/00 | 分类号: | C07F9/00;C23C16/34;C23C16/40;C23C16/455;C23C16/50;C23C16/52;C23C16/56;H01L21/02 |
代理公司: | 北京市立方律师事务所 11330 | 代理人: | 李娜;王占杰 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 化合物 形成 薄膜 方法 | ||
1.一种铌化合物,所述铌化合物由以下通式I表示:
[通式I]
其中,在通式I中,
R1、R4、R5、R6、R7和R8各自独立地是氢原子、C1-C6直链烷基或支链烷基、或者C3-C6环烃基,R4、R5、R6、R7和R8中的至少一个是C1-C6直链烷基或支链烷基,并且
R2和R3各自独立地是氢原子、卤素原子、C1-C6直链烷基或支链烷基、或者C3-C6环烃基。
2.根据权利要求1所述的铌化合物,其中:
R4、R5、R6、R7和R8中的一个是C1-C3直链烷基或C3支链烷基,并且
R4、R5、R6、R7和R8中的剩余那些是氢原子。
3.根据权利要求1所述的铌化合物,其中,R4、R5、R6、R7和R8中的至少一个是氢原子。
4.根据权利要求1所述的铌化合物,其中:
R4、R5、R6、R7和R8均是甲基,并且
R2和R3各自独立地是氢原子、C1-C6直链烷基或支链烷基、或者C3-C6环烃基。
5.根据权利要求1所述的铌化合物,其中,R1是C1-C5直链烷基或支链烷基。
6.根据权利要求1所述的铌化合物,其中,R2和R3中的至少一个是卤素原子。
7.根据权利要求1所述的铌化合物,其中,R2和R3中的至少一个是C1-C3直链烷基或C3支链烷基。
8.根据权利要求1所述的铌化合物,其中:
所述铌化合物由以下通式II表示:
[通式II]
在通式II中,
R1和R4各自独立地是C1-C6直链烷基或支链烷基,并且
R2和R3各自独立地是卤素原子、或者C1-C6直链烷基或支链烷基。
9.根据权利要求8所述的铌化合物,其中,R1是C3-C5支链烷基。
10.根据权利要求8所述的铌化合物,其中,R2和R3各自独立地是卤素原子。
11.根据权利要求8所述的铌化合物,其中,R2和R3各自独立地是C1-C3直链烷基或C3支链烷基。
12.根据权利要求8所述的铌化合物,其中:
R1是支链戊基,
R2和R3各自独立地是氯原子、C1-C3直链烷基或者C3支链烷基,并且
R4是C1-C3直链烷基或者C3支链烷基。
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