[发明专利]一种固态存储设备空闲时稳定性分析数据收集方法

说明书

本发明公开了一种固态存储设备空闲时稳定性分析数据收集方法，检测存储设备的运行状态，在存储设备空闲时进行稳定性扫描，在稳定性扫描过程中进行分区，在不同分区随机抽取一定比例作为样本，针对不同错误类型，采用不同的扫描方式在各分区内进行错误类型扫描，分类收集不同错误的针对性扫描结果，综合分析错误类型所占比重及分析这些数据位发生的位置的重复率、与P/E周期的关系，对所述存储设备运行状态进行一定时间窗口的周期错误率及错误变化趋势建立预估模型。本申请利用设备空闲时段，依据错误特征，针对性扫描收集数据分析预判，提高准确率；在存储设备的整个生命周期，能够提供不同时期内的预估模型，提高可靠性保障。

技术领域

本发明涉及固态存储设备技术领域，尤其是涉及一种固态存储设备空闲时稳定性分析数据收集方法。

背景技术

目前，基于NAND Flash 的固态存储设备中算法管理依据来源于前期生产扫描结果，NAND Flash 投入应用的前期，一般不会出现严重的错误。但随着 NAND Flash 使用过程中P/E次数的不断增加，其发生错误的概率将呈现出非线性的快速增长，没有不同时段内的针对性扫描数据作错误预估，后阶段很难实现固态存储的优化管理，NAND Flash 固态存储面对的可靠性降低、使用寿命有限等一系列问题很难得到有效解决。

且NAND Flash 会在数据的不同存储阶段发生不同的错误，如按照前期扫描结果直接进行存储管理，数据可靠性会逐渐降低，如按照其存储环境的最差情况设计管理会带来相对严重的资源消耗，并且影响存储系统性能。

对于目前的算法管理，面临如下问题：增设闲时稳定性扫描需要额外的逻辑处理流程，会需要占用额外的代码空间，提高成本；只针对设备空闲时段做处理，需要精准识别设备空闲及退出空闲状态，且空闲时段长短不定，扫描流程及结果需要实施保护，增加难度；如数据收集不够全面对一定时段内错误率预估及应用，存在一定风险误判。

因此，在存储设备生命周期内不同时段内识别出错误变化规律，并针对错误规律进行优化调整，改善设备寿命和性能，是目前亟待解决的问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种固态存储设备空闲时稳定性分析数据收集方法，通过在存储设备空闲时进行稳定性扫描，在稳定性扫描过程中进行分区，在不同分区随机抽取一定比例作为样本，针对不同错误类型，采用不同的扫描方式在各分区内进行错误类型扫描，分类收集不同错误的针对性扫描结果，综合分析错误类型所占比重及分析这些数据位发生的位置的重复率、与 P/E 周期的关系，对所述存储设备运行状态进行一定时间窗口的周期错误率及错误变化趋势建立预估模型。

本发明的上述发明目的通过以下技术方案得以实现：

一种固态存储设备空闲时稳定性分析数据收集方法，包括以下步骤：

S1、开始；

S2、固态存储设备进入运行；

S3、检查固态存储设备运行状态；

S4、固态存储设备是否属于空闲状态，若是，进入下一步，若否，转S2；

S5、进行稳定性扫描；

S6、HOST是否接收到工作指令，若否，进入下一步，若是，转S9；

S7、稳定性扫描是否执行完毕，若是，进入下一步，若否，转S5；

S8、分析扫描结果，给出错误预估模型；转S3；

S9、记录扫描结果，继续使用前次错误预估模型；

S10、退出扫描，转S3。

本发明进一步设置为：稳定性扫描包括以下步骤：

A1、开始；

A2、获取当前存储单元P/E状态、扫描分区情况；