[发明专利]一种固态存储设备空闲时稳定性分析数据收集方法有效
| 申请号: | 202010581845.X | 申请日: | 2020-06-23 |
| 公开(公告)号: | CN111752798B | 公开(公告)日: | 2022-12-27 |
| 发明(设计)人: | 韦薇;吴大畏;韩国军;李晓强 | 申请(专利权)人: | 深圳市得一微电子有限责任公司 |
| 主分类号: | G06F11/30 | 分类号: | G06F11/30;G06F11/22;G06F11/34;G11C16/04 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 518000 广东省深圳市南山区粤海街道科技*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 固态 存储 设备 闲时 稳定性 分析 数据 收集 方法 | ||
1.一种固态存储设备空闲时稳定性分析数据收集方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1、开始;
S2、固态存储设备进入运行;
S3、检查固态存储设备运行状态;
S4、固态存储设备是否属于空闲状态,若是,进入下一步,若否,转S2;
S5、进行稳定性扫描,在稳定性扫描过程中进行分区,在不同分区随机抽取一定比例存储单元作为样本,针对不同错误类型,采用不同的扫描方式在各分区内进行错误类型扫描,分类收集不同错误的针对性扫描结果,综合分析错误类型所占比重,分析错误数据位发生的位置的重复率及与 P/E 周期的关系,对所述固态存储设备运行状态进行一定时间窗口的周期错误率及错误变化趋势分析,建立预估模型;
S6、HOST是否接收到工作指令,若否,进入下一步,若是,转S9;
S7、稳定性扫描是否执行完毕,若是,进入下一步,若否,转S5;
S8、分析扫描结果,给出错误预估模型,转S3;
S9、记录扫描结果,继续使用前次错误预估模型;
S10、退出扫描,转S3;
稳定性扫描包括以下步骤:
A1、开始;
A2、获取当前存储单元P/E状态、扫描及分区情况;
A3、判断是否需要更新分区,若是,进入下一步,若否,转A5;
A4、更新分区信息,获取最新错误预估模型,转A6;
A5、调用前次错误预估模型;
A6、选取分区内存储块样本,按照错误预估模型中错误类型主次关系,执行扫描;
A7、收集扫描数据,并综合分析扫描结果;
A8、建立错误预估模型;
A9、结束。
2.根据权利要求1所述固态存储设备空闲时稳定性分析数据收集方法,其特征在于,步骤A2中,扫描分区包括以存储块P/E 次数段间距分区、以数据类型分区、以数据有效性分区中的至少一种方式;设定存储块P/E 次数段间距值,以段间距值对存储块进行分区;以数据类型将存储块分为:用户数据区、管理表格区;以数据有效性将存储块分为:已存有效数据单元、空单元,于不同分区随机抽取一定比例存储单元作为样本。
3.根据权利要求1所述固态存储设备空闲时稳定性分析数据收集方法,其特征在于,在各分区内进行错误类型扫描,针对不同错误类型,采用不同的扫描方式进行扫描,以发现是否存在错误、错误所占比例;其中,针对数据编程干扰产生的错误,选择某一存储单元进行随机数据写入后,扫描其前后相邻单元是否发生错误位变多的情况;或基于阈值电压,在指定方向和步长下移动时,读取存储块错误位数。
4.根据权利要求3所述固态存储设备空闲时稳定性分析数据收集方法,其特征在于,针对数据驻留产生的错误,对不同分区不同使用状态的存储块,分别读出其未经纠错的数据,记录错误位数并标记错误发生的物理结构位置,获取不同P/E 分区空块编程写入时间。
5.根据权利要求3所述固态存储设备空闲时稳定性分析数据收集方法,其特征在于,针对擦除产生的错误,对不同分区空块,进行擦除,检查操作后状态码,读取物理数据,判别是否全为FF。
6.根据权利要求1所述固态存储设备空闲时稳定性分析数据收集方法,其特征在于,步骤A7中,分类收集不同错误的针对性扫描结果,按照错误类型,统计分析趋势,综合分析错误类型所占比重,分析错误数据位发生的位置的重复率及与 P/E 周期的关系。
7.根据权利要求1所述固态存储设备空闲时稳定性分析数据收集方法,其特征在于,步骤A8中,根据步骤A7中得到的分析结果,对所述固态存储设备运行状态进行设定时间窗口的周期错误率及错误变化趋势建立预估模型。
8.根据权利要求1所述固态存储设备空闲时稳定性分析数据收集方法,其特征在于,根据错误分析结果,对设备中已扫描的存储块或者分区,依据错误预估标定不同状态,动态调整最大纠错能力;将错误率已经超过错误校验码最大纠错能力的存储块内有效数据进行搬移,或误差范围内错误校验码最大纠错能力的存储块内有效数据进行搬移,释放后插入坏块表;按数据功能区挑选适合空块进行组合回收。
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