[发明专利]一种霍尔芯片老化测试装置及测试方法

说明书

本发明公开一种霍尔芯片老化测试装置，包括底座，底座上固定有一个或多个老化测试体；老化测试体包括同轴设置且可拆卸的第一线圈架和第二线圈架，第一线圈架上缠绕有第一线圈，第二线圈架中缠绕有第二线圈，第一线圈与第二线圈的引线焊接成为一条线缠绕的线圈，第一线圈与第二线圈的绕向相同，第一线圈架和第二线圈架之间放置有PCB引脚放大板；每个老化测试体的线圈均与一根集成总线连接，每个老化测试体的PCB引脚放大板上的放大端均通过另一根集成总线引出；本发明还公开一种霍尔芯片老化测试方法。本发明解决了现有技术中存在的老化测试难以批量实现的问题。

技术领域

本发明属于集成电路测试技术领域，涉及一种霍尔芯片老化测试装置，本发明还涉及利用该装置进行的测试方法。

背景技术

霍尔芯片是根据霍尔效应的磁传感器。根据其磁电特性，性价比高，性能稳定等特点，被广泛用于检测磁场及其变化或与磁场相关的各种应用。目前有多种封装形式，常见的有TO92S，SOT23，TO94，SOT89等，而封装之后的老化测试往往很难批量实现，而全温度测试下一个霍尔芯片参数往往需要数十个小时，老化测试需要上千个小时，且步骤繁多，给霍尔芯片的老化测试造成巨大困难。

发明内容

本发明的目的是提供一种霍尔芯片老化测试装置，解决了现有技术中存在的老化测试难以批量实现的问题。

本发明一种霍尔芯片老化测试装置所采用的技术方案是，

一种霍尔芯片老化测试装置，包括底座，底座上固定有一个或多个老化测试体；老化测试体包括同轴设置且可拆卸的第一线圈架和第二线圈架，第一线圈架上缠绕有第一线圈，第二线圈架中缠绕有第二线圈，第一线圈与第二线圈的引线焊接成为一条线缠绕的线圈，第一线圈与第二线圈的绕向相同，第一线圈架和第二线圈架之间放置有PCB引脚放大板；

每个老化测试体的线圈均与一根集成总线连接，每个老化测试体的PCB引脚放大板上的放大端均通过另一根集成总线引出。

本发明的特点还在于，

第一线圈架固定在底座上，底座上固定有第一固定板，第一固定板的一端端面固定在底座上靠近第一线圈架处，第一固定板的另一端与第二固定板的另一端旋转连接，第二线圈架固定在第二固定板的板面上，第二固定板能够通过第二固定板在第一固定板转动实现与第一固定板的同轴放置。

第一线圈架和第二线圈架均为铝制材料制作，线圈为耐高温漆包铜线。

第一线圈架与第二线圈架接触面的端面上开有凹槽，PCB引脚放大板放置在凹槽内。

PCB引脚放大板上还开有固定孔，凹槽内还设置有和固定孔相配合的凸台。

还包括芯片老化测试座，芯片老化测试座的引脚与PCB引脚放大板的引脚端焊接。

本发明的另一个目的是提供一种霍尔芯片老化测试方法，

本发明的另一个技术方案是，

一种霍尔芯片老化测试方法，具体步骤为：

步骤1，将高斯计探头放置于第一线圈架和第二线圈架之间，给线圈通入电流，通过电流变化得到磁场与电流的系数k₀；

步骤2，将高斯计探头取出，将霍尔芯片通过老化座与引脚与PCB引脚放大板连接或者直接或PCB引脚放大板封装连接后将PCB引脚放大板放入凹槽中；将测试设备连接至两根集成总线之间；

步骤3，逐渐增加或减小电流值，根据系数k₀和测设设备获得的数据即可计算出霍尔芯片的灵敏度；

步骤4，可将一种霍尔芯片老化测试装置放入高低温湿度箱，在温湿度箱上设置不同的温度点或湿度点，等到温度或湿度达到设定值后，便可以再次测试霍尔芯片的参数，当温度或湿度达到设定值后，测试方法同步骤3。