[发明专利]一种双框架同轴检测装置有效
申请号: | 202010574621.6 | 申请日: | 2020-06-22 |
公开(公告)号: | CN111829419B | 公开(公告)日: | 2022-06-03 |
发明(设计)人: | 江俊;张建坤;苏建平;李晓哲;胡百振;刘懿;刘青;彭豪;梁啸宇 | 申请(专利权)人: | 上海航天控制技术研究所 |
主分类号: | G01B5/252 | 分类号: | G01B5/252 |
代理公司: | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人: | 陈鹏 |
地址: | 201109 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 框架 同轴 检测 装置 | ||
一种双框架同轴检测装置,包括主轴、第一轴承、轴承挡圈、第二轴承、锁紧挡圈、底座、轴承压块、测量立杆、销轴、连接套筒、连接环、锁紧把手、杠杆表支架、杠杆千分表、压紧立杆、压紧横杆、固定销、固定螺母,能够实现同时检测内、外框架的同轴度,适用于多种规格双框架结构的同轴度检测,解决了双框架结构中两个框架同轴旋转驱动过程中容易出现框架抖动影响精度甚至损坏框架的问题,实用性强,结构稳定,操作简单。
技术领域
本发明涉及一种双框架同轴检测装置,属于同轴检测技术领域。
背景技术
随着航空航天、无人机等技术领域的不断发展,小型化双框架结构应用的越来越多。双框架结构中能否保证两个框架旋转轴同轴,即X轴、Y轴、Z轴三个轴交于一点,是制约双框架结构发展瓶颈之一。如果双框架结构中两个框架旋转轴同轴偏差较大,在框架结构驱动过程中会引起框架抖动,降低框架控制精度,恶劣环境下甚至会引起框架损坏。
发明内容
本发明解决的技术问题是:针对目前现有技术中,双框架结构中两个框架同轴旋转驱动过程中容易出现框架抖动影响精度甚至损坏框架的问题,提出了一种双框架同轴检测装置。
本发明解决上述技术问题是通过如下技术方案予以实现的:
一种双框架同轴检测装置,包括主轴、第一轴承、轴承挡圈、第二轴承、锁紧挡圈、底座、轴承压块、测量立杆、销轴、连接套筒、连接环、锁紧把手、杠杆表支架、杠杆千分表、压紧立杆、压紧横杆、固定销,所述主轴为T型圆盘结构,所述第一轴承、第二轴承均紧贴主轴下端与主轴同轴安装,第一轴承、第二轴承间紧贴第一轴承内圈设置有轴承挡圈,所述锁紧挡圈紧贴第二轴承内圈设置于底座上,所述底座与第一轴承、第二轴承配合同轴安装,所述轴承压块紧贴第二轴承外圈并通过紧固螺钉与底座配合安装;
所述测量立杆设置于底座顶端一侧,所述连接套筒与测量立杆相连,连接环设置于连接套筒一端,锁紧把手通过销轴固定于测量立杆上并与连接环紧密接触,所述杠杆表支架一端与连接环相连,另一端设置有杠杆千分表对待测产品进行测量;
所述压紧立杆设置于测量立杆对应方向的底座顶端上,所述压紧横杆与压紧力杆接触安装,并通过固定销与固定螺母固定于压紧立杆上。
所述主轴、第一轴承、轴承挡圈、第二轴承、锁紧挡圈、底座、轴承压块组成旋转机构,所述测量立杆、销轴、连接套筒、连接环、锁紧把手、杠杆表支架、杠杆千分表组成测量机构,所述压紧立杆、压紧横杆、固定销、固定螺母组成压紧机构,所述压紧机构、测量机构均通过紧固螺钉连接于旋转机构上,待测产品置于旋转机构上进行旋转,通过压紧机构压紧后利用测量机构进行检测。
所述主轴包括圆柱面、螺纹孔、圆柱凸台、外螺纹,所述螺纹孔数量为6个,用于与待测产品固定,所述第一轴承、第二轴承均通过外螺纹设置于圆柱凸台外侧,其中,所述第一轴承、第二轴承均为角接触轴承,用于保证主轴与底座的同轴度。
所述底座顶端表面两侧均设置有螺纹孔,底座中空内侧顶端设置有对第一轴承外圈进行限位的限位面,底端设置有对第二轴承限位的螺纹孔。
所述主轴的圆柱凸台对第一轴承进行限位,所述主轴外螺纹与锁紧挡圈旋紧后锁定第一轴承及第二轴承,所述轴承压块通过底座螺纹孔对第二轴承外圈进行锁定限位,所述底座通过第一轴承、第二轴承对主轴进行支撑,主轴可相对底座沿径向自由旋转。
所述杠杆表支架相对测量立杆的位置可根据锁紧把手旋紧程度进行调整,锁紧把手旋紧后杠杆表支架位置固定,并可调整杠杆千分表沿三轴方向进行自由移动,所述压紧立杆一端设置有两条滑槽,另一端设置有4个光孔,侧面设置有滑槽,所述压紧横杆一端设置有滑槽,另一端设置有圆柱孔,圆柱孔底端设置有压紧平面。
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