[发明专利]一种双框架同轴检测装置有效
申请号: | 202010574621.6 | 申请日: | 2020-06-22 |
公开(公告)号: | CN111829419B | 公开(公告)日: | 2022-06-03 |
发明(设计)人: | 江俊;张建坤;苏建平;李晓哲;胡百振;刘懿;刘青;彭豪;梁啸宇 | 申请(专利权)人: | 上海航天控制技术研究所 |
主分类号: | G01B5/252 | 分类号: | G01B5/252 |
代理公司: | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人: | 陈鹏 |
地址: | 201109 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 框架 同轴 检测 装置 | ||
1.一种双框架同轴检测装置,其特征在于:包括主轴、第一轴承、轴承挡圈、第二轴承、锁紧挡圈、底座、轴承压块、测量立杆、销轴、连接套筒、连接环、锁紧把手、杠杆表支架、杠杆千分表、压紧立杆、压紧横杆、固定销,所述主轴为T型圆盘结构,所述第一轴承、第二轴承均紧贴主轴下端与主轴同轴安装,第一轴承、第二轴承间紧贴第一轴承内圈设置有轴承挡圈,所述锁紧挡圈紧贴第二轴承内圈设置于底座上,所述底座与第一轴承、第二轴承配合同轴安装,所述轴承压块紧贴第二轴承外圈并通过紧固螺钉与底座配合安装;
所述测量立杆设置于底座顶端一侧,所述连接套筒与测量立杆相连,连接环设置于连接套筒一端,锁紧把手通过销轴固定于测量立杆上并与连接环紧密接触,所述杠杆表支架一端与连接环相连,另一端设置有杠杆千分表对待测产品进行测量;
所述压紧立杆设置于测量立杆对应方向的底座顶端上,所述压紧横杆与压紧力杆接触安装,并通过固定销与固定螺母固定于压紧立杆上;
所述主轴、第一轴承、轴承挡圈、第二轴承、锁紧挡圈、底座、轴承压块组成旋转机构,所述测量立杆、销轴、连接套筒、连接环、锁紧把手、杠杆表支架、杠杆千分表组成测量机构,所述压紧立杆、压紧横杆、固定销、固定螺母组成压紧机构,所述压紧机构、测量机构均通过紧固螺钉连接于旋转机构上,待测产品置于旋转机构上进行旋转,通过压紧机构压紧后利用测量机构进行检测;
所述主轴包括圆柱面、螺纹孔、圆柱凸台、外螺纹,所述螺纹孔数量为6个,用于与待测产品固定,所述第一轴承、第二轴承均通过外螺纹设置于圆柱凸台外侧,其中,所述第一轴承、第二轴承均为角接触轴承,用于保证主轴与底座的同轴度;
所述底座顶端表面两侧均设置有螺纹孔,底座中空内侧顶端设置有对第一轴承外圈进行限位的限位面,底端设置有对第二轴承限位的螺纹孔;
所述主轴的圆柱凸台对第一轴承进行限位,所述主轴外螺纹与锁紧挡圈旋紧后锁定第一轴承及第二轴承,所述轴承压块通过底座螺纹孔对第二轴承外圈进行锁定限位,所述底座通过第一轴承、第二轴承对主轴进行支撑,主轴可相对底座沿径向自由旋转;
所述杠杆表支架相对测量立杆的位置可根据锁紧把手旋紧程度进行调整,锁紧把手旋紧后杠杆表支架位置固定,并可调整杠杆千分表沿三轴方向进行自由移动,所述压紧立杆一端设置有两条滑槽,另一端设置有4个光孔,侧面设置有滑槽,所述压紧横杆一端设置有滑槽,另一端设置有圆柱孔,圆柱孔底端设置有压紧平面;
所述固定销一侧设置有滚花圆柱面、另一侧设置有外螺纹,固定销中部设置有第一限位面、第二限位面,其中,所述第一限位面与压紧立杆的滑槽配合,所述第二限位面与压紧横杆的滑槽配合,所述外螺纹与固定螺母相互配合,所述压紧横杆与压紧立杆的滑槽紧密接触,并通过旋松固定螺母以调整压紧横杆与压紧立杆的相对位置,位置调整结束后旋紧固定螺母固定压紧横杆位置,所述压紧横杆的压紧平面可沿同轴检测装置坐标系进行三轴自由移动以适应不同外形待测产品,所述压紧横杆的圆柱孔可避开待测产品表面的不规则凸起;
其中,同轴检测装置坐标系为以主轴的T型圆盘上表面与主轴轴线交点为原点,以主轴轴线为X轴,以主轴轴线与测量立杆轴线形成平面的垂线为Y轴,通过右手定则确认Z轴;
所述测量机构通过螺钉及底座的螺纹孔连接于旋转机构上,所述压紧机构通过螺钉、光孔及底座的螺纹孔连接于旋转机构上;
所述待测产品与主轴固定连接,待测产品圆柱面与主轴圆柱面配合使待测产品与旋转机构径向同轴;
所述压紧机构压紧待测产品后,通过测量机构以杠杆千分表读取数值变化对待测产品进行同轴偏差检测。
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